주사 전자 현미경 (SEM) 실습과 관찰

소개

주사전자현미경 SEM 실습 후 작성한 레포트입니다. 실제 SEM 사진과 관찰 사진이 첨부되어있어 큰 도움이 될 것입니다.

목차

1. 서론
2. 실험 장비
3. 실험

본문내용

1. 서론
광학현미경이 아무리 세밀한 렌즈로 구성되어 있더라도 확대능력에는 한계가 있다. 광학현미경 능력 향상의 한계치가 보일 쯤, 10,000배 이상의 배율이 필요한 세포의 내부구조의 연구 등, 과학적인 필요에 의해 나타난 것이 전자 현미경이다.
전자 현미경은 크게 투과전자 현미경 (Transmission Electron Microscope)과 주사 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope)으로 나눌 수 있다. 이의 구조상 차이는 광학현미경의 투과형과 반사형의 차이와 같다고 하겠으며 시료를 준비하는 작업 역시 광학 현미경과 동일하게 투과전자 현미경과 주사전자 현미경을 구분 지으면 될 것이다. 주사전자 현미경 (SEM)은 1942년에 개발되어 1960년대 초반부터 상용화되었다.
주사전자 현미경은 전자를 사용해서 시료의 표면을 주사하여 영상을 만든다. 텔레비전의 작동원리와 거의 같다. 주사전자 현미경이 상을 얻는 방법은 전자선이 시료면 위를 면상으로 주사할 때 시료에서 발생되는 여러 가지 신호 중 그 발생 확률이 가장 많은 이차전자 또는 반사전자를 신호원으로 CRT상에 시료와 동시에 주사시켜 한 면의 화면을 만든다. 따라서 주사전자 현미경에서는 주로 시료표면의 정보를 얻을 수 있고 시료 크기 및 준비에 크게 제약을 받지 않는다. 주사전자 현미경은 재료의 표면 형상 분석 및 성분 분석에 있어서 매우 일반적으로 사용되고 있다. 주사전자 현미경은 전자빔을 시료 표면에 조사하여 튀어나오는 2차 전자를 이용하여 관찰하는 현미경을 말한다. 주사전자 현미경은 전자의 발생부인 전자총 부분과 전자를 모아서 조사해 주는 렌즈가 있는 COLUMN, 그리고 시료가 놓이고 검출기가 있는 Chamber, 그리고 영상을 보여주는 모니터와 전체를 조정하는 패널로 구성된다. 주사전자 현미경은 전자총 부분의 Filament에 전원을 가하여 방출된 전자를 높은 전압으로 가속하여 집속 렌즈로 모아서 시료 표면에 조사시켜 시료에서 방출되는 2차 전자를 검출하여 영상을 만드는 원리를 이용하였다.

참고자료

· 없음