5.hp4156

소개

전자재료및실험

목차

1.실험제목
2.실험목적
3.실험방법
4.실험장비 및 소모품
5.이론적 배경
6. 실험결과
7. 실험고찰
8. 실험결과
9.참고문헌

본문내용

1.실험제목
-HP4156A 장비활용 (Semiconductor parameter analyer)
2.실험목적
-HP4156A장비를 활용하여 LED의 I-V곡선을 그려본다.
3.실험방법
(1)LED를 HP 4156A 장비의 프로브에 연결시킨다.
(2)스크린상의 전압 측정범위를 입력한다.
(3)스크린상의 step범위를 입력한다.
(4)스크린상의 display범위를 입력한다.
(5)장비의 결과값을 (I-V곡선)을 관찰한다.
4.실험장비 및 소모품
- LED, HP4156A
5.이론적 배경
- Semiconductor Parameter Analyzer (파라미터 분석기)
□ HP 4156A / Hewlett Packard (USA) (1997.01)
□ Current : 1fA – 1A, Voltage : 1uV – 200 V
Fully automated 1-V sweep & synchronized stress mode
□ Typical applications : Determination of semiconductor parameters for chip device

본 발명은 파라미터 분석기를 사용한 반도체 소자 측정 방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 프로브 스테이션에 안착된 기판을 자동으로 이동하면서 다이별로 반도체 소자의 특성을 측정할 수 있는 파라미터 분석기를 사용한 반도체 소자 측정 방법에 관한 것이다.
본 발명의 상기 목적은 프로브 스테이션과 파라미터 분석기를 GPIB 카드를 통해 연결하고 자동화된 측정을 가능하게 하는 파라미터 분석기를 사용한 반도체 소자 측정 방법에 의해 달성된다.
따라서, 본 발명의 파라미터 분석기를 사용한 반도체 소자 측정 방법은 수작업에 의한 측정오류를 제거하고 측정시간을 단축하여 반도체 소자 개발의 비용을 절감할 수 있는 효과가 있다.

참고자료

· 발광다이오드
· http://100.naver.com/100.nhn?docid=844828
· http://100.naver.com/100.nhn?docid=70838