논리 게이트 결과 보고서 & 추가 논리 게이트

소개

1. 실험 목표
□ 실험적으로 NAND, NOR, 인버터 게이트의 진리표를 작성.
□ NAND, NOR 게이트를 이용한 달느 기본 논리 게이트 구성.
□ ANSI/IEEE 표준 91-1984 논리 기호 사용.

1. 실험 목표
□ 실험을 통하여 OR와 XOR의 진리표 결정.
□ 펄스 파형을 이용하여 OR와 XOR 논리 게이트 테스트
□ OR와 XOR 게이트를 사용하여 4비트 2진수의 1의 보수 또는 2의 보수를 실행하는 회로 구성.
□ 모의실험용 결함에 대한 보수(complement) 회로의 고장 진단.

목차

1.실험 목표

2.이론 요약

3.데이터 및 관찰 내용

본문내용

1. 실험 목표
□ 실험적으로 NAND, NOR, 인버터 게이트의 진리표를 작성.
□ NAND, NOR 게이트를 이용한 달느 기본 논리 게이트 구성.
□ ANSI/IEEE 표준 91-1984 논리 기호 사용.

2. 이론 요약
논리에서는 논리 ‘1’ 또는 ‘0’의 두 가지 정상 조건만을 다룬다. 이들 조건은 질문에 대한 ‘예’나 ‘아니오’의 답변과 같다. 또는 스위치가 닫혀 있거나(1) 열려있는 것(0), 어떤 사건이 발생했거나(1) 발생하지 않은 경우(0) 등등과 같다고 할 수 있다. 부울 논리에서 1과 0은 조건을 나타낸다. 양(positive)의 논리에서 HIGH는 1로, LOW는 0으로 표현되며, 높은 전압이 1이 되고 낮은 전압이 0이 된다. 떤 시스템에서는 이와 같은 정의가 반대로 된다. 음(negative)의 논리에서는 높은 전압이 0이되고 낮은 전압이 1이 된다.

1. 실험 목표
□ 실험을 통하여 OR와 XOR의 진리표 결정.
□ 펄스 파형을 이용하여 OR와 XOR 논리 게이트 테스트
□ OR와 XOR 게이트를 사용하여 4비트 2진수의 1의 보수 또는 2의 보수를 실행하는 회로 구성.
□ 모의실험용 결함에 대한 보수(complement) 회로의 고장 진단.

2. 이론 요약
이번 실험에서는 OR와 XOR 게이트를 테스트해 보는데, 먼저 이 게이트들에 대해 자세히 알아보고 응용에서 이들을 사용해 보겠다.

참고자료

· 없음