XRF (x-선 형광 분석법) 기기 에 대한 이론및 구조 구성 실험방법

소개

XRF 기기분석과 원리에 대한 이론과 정의 그리고 측정법을 비롯한 구성요소

목차

작동 원리
장치의 용도
장점
기본 구성

본문내용

작동 원리
XRF는 유기물과 무기물에 대한 원소의 정성 및 정량분석을 하는데 사용되는 분석장비 이며 X-선이 발생할 때 생기는 백색선(형광)을 이용해 물질의 성분을 측정하는 장치이다. 백색선은 X-선 영역의 전파장을 가지고 있으므로 물질에 백색선을 조사한 후 격자상수를 알고 있는 결정을 이용하여 물질 성분을 분석하게 된다.

크로마토그래피나 ICP를 이용한 분석과는 달리 시료를 산화용으로 처리하지 않고 비파괴 분석을 할 수 있고 경원소 B(원자번호 : 5)에서 Ur(원자번호 : 92)까지의 전 원소를 소량도 신속하고 정확하게 분석 할 수 있다

분석방법은 시료에 1차 X선을 조사하여 발생하는 형광 X선을 보통 분광결정에 의하여 분광하여, 그 강도를 검출기로 측정함으로써 정성 또는 정량분석을 하는 방법이다. 형광 X선 스펙트럼은 원소에 선 스펙트럼이 있어, 파장과 원자번호간의 관계를 나타낸 모슬(Moseley)의 법칙이 이 분석의 기초가 된다. 이 관계를 이용하여 정성분석을 할 수 있고, 스펙트럼의 강도는 그 원소의 함유량에 원칙적으로 비례하므로 이를 이용해 정량분석을 할 수가 있다.

장치의 용도
XRF는 시료로부터 발산되는 2차(형광) X선을 검출하여 물질의 정성, 정량 분석을 수행하는 장비이며 비 파괴적으로 빠르게 분석하는 장비이다.

장점
1) 금속 또는 분말 시료의 경우 비파괴 분석으로 시료 조제가 용이하고 신속하다.

참고자료

· 없음