중성자 반사율 측정의 Foot-print 현상 정밀 보정 (Precise Correction of Foot-print Phenomena in Neutron Reflectivity Measurements)

서지정보

· 발행기관 : 한국물리학회
· 수록지 정보 : 새물리 / 64권 / 4호 / 355 ~ 363페이지
· 저자명 : 이정수

초록

``하나로” 수직형 중성자 반사율 측정장치를 이용한 초기 중성자 반사 측정 데이터로부터 foot-print 현상을 정밀 보정함으로써 중성자 반사율을 정확하게 구할 수 있도록 하였다. 각기 다른 슬릿 폭에 따라 직경 3 인치인 deuterated polystyrene (d-PS) 박막 시료의 중성자 전반사 강도를 측정하고 그 분포의 기울기를 구함으로써 foot-print 보정을 위한 Q_n 을 구하였다. 이러한 결과를 슬릿 폭 조건에 따른 사다리꼴 (trapezoid) 형태의 시료 입사 중성자 빔 분포에 의한 계산 값과 비교하였다. 또한, Q = 0.0045 ~ 0.1882 A^{-1} 영역에 대하여 단일 슬릿 폭 고정 및 구간별 슬릿 폭 고정 방법으로 d-PS 박막의 중성자 반사 강도를 측정하고 foot-print를 보정한 중성자 반사율상을 이용한 박막 구조 해석을 수행함으로써 실제 중성자 반사 측정 실험에서 foot-print 보정의 적정성을 평가하였다.

영어초록

We measured the precise reflectivity with the vertical-type neutron relfectometer of "HANARO"' by using the data from initial measurement to correct the foot-print phenomena. We obtained Q_n for the foot-print correction by measuring the intensity of neutrons totally reflected at a 3 inch deuterated polystyrene (d-PS) thin-film surface for different slit widths and evaluating the slope of the corresponding intensity distribution. We compared Q_n from experiment to that from a calculation of the neutron intensity distribution for different slit widths when a trapezoid shaped neutron beam illuminates a sample. We measured neutron reflection intensity of d-PS thin-film in the range of Q = 0.0045 ~ 0.1882 Å^{-1} with two different measurement methods according to the slit width and acquired neutron reflectivity profile by correcting foot-print on the measured data. By doing analysis of the thin-film structure with the profile, we obtained the validity of correction of foot-print phenomena in real neutron reflection experiment.

참고자료

· 없음