단일형활성픽셀센서(MAPS) 기술에 기반한 ALPIDE (ALICE PIxel DEtector)의 문턱값 측정 시 발생하는 이상 현상에 대한 연구 (Study of the Fake Hit Effect Observed During the Charge Threshold Scan Procedure of the ALICE Pixel Detector)

서지정보

· 발행기관 : 한국물리학회
· 수록지 정보 : 새물리 / 73권 / 8호 / 693 ~ 702페이지
· 저자명 : 최성운, 유인권, 권민재

초록

ALPIDE (ALICE PIxel DEtector)는 단일형활성픽셀센서(Monolithic Active Pixel Sensor, MAPS) 기술에 기반한 실리콘 검출기로, 현재 거대이온충돌기실험 (A Large Ion Collider Experiment, ALICE)을 비롯한 다양한 충돌실험에서 입자충돌지점을 둘러싸고 있는 내부궤적장치(Inner Tracking System, ITS)에 널리 활용되고 있다. 본 연구진은 앞서 ALPIDE의 방사선 내구성 연구를 위해 경주 양성자과학연구단(KOMAC)의 양성자 빔 시설을 통해 양성자에 의한 총이온화선량 효과를 측정하는 실험을 진행하는 과정에서, 방사화된 칩에서 전하문턱값이 측정되지 않는 이상현상을 발견하였다. 이 연구에서는 방사선원의 사용이나 문턱값 측정조건의 변화 등 다양한 방법을 통해서 이러한 이상현상의 원인을 밝히고, 그 결과와 방사화된 주변 물질들의 영향 가능성에 대하여 논의하였다.

영어초록

The ALICE (A Large Ion Collider Experiment) pixel detector is a silicon detector based on the Monolithic Active Pixel Sensor technology specifically designed for use in the Inner Tracking System of the ALICE and other collider experiments. A charge threshold scan over whole pixels with varying radiation doses is a standard procedure for the total ionizing dose effect study to assess the radiation hardness of the sensor. This procedure was performed using the Korea Multi-purpose Accelerator Complex proton beam. During the charge threshold scan procedure, some anomalous reading failures are observed depending on the positions of the pixels within a chip. In this study, we examine the underlying reasons for these failures under various conditions, which involve using a radiation source and modifying the scan procedures. This paper presents comprehensive results and discusses the possible failures caused by incident particles from radiated materials near the pixels.

참고자료

· 없음