· A. G. Cullis and L. T. Canham, Nature 353, 335 (1991).
· A. G. Cullis, L. T. Canham, and P. D. J. Calcott, J. Appl. Phys. 82, 909 (1997).
· H. C. Shin, J. A. Corno, J. L. Gole, and M. Liu, J. Power Sources 139, 314 (2005).
· O. Bisi, S. Ossicini, and L. Pavesi, Surf. Sci. Rep. 38, 1(2000).
· D. J. Blackwood and Y. Zhang, Electrochim. Acta 48, 623(2003).
· S. Setzu, G. Lerondel, and R. Romestain, J. Appl. Phys. 84,3129 (1998).
· M. Servidori, C. Ferrero, S. Lequien, S. Milita, A. Parisini,R. Romestain, S. Sama, S. Setzu, and D. Thiaudière, Solid State Commun. 118, 85 (2001).
· G. Lammel and Ph. Renaud, Sensor. Actuat. A-Phys. 85,356 (2000).
· G. D. Arrigo, S. Coffa, and C. Spinella, Sensor. Actuat. APhys.99, 112 (2002).
· R. R. K. Reddy, A. Chadha, and E. Bhattacharya, Biosens.Bioelectron. 16, 313 (2001).
· E. W. Flick, Industrial Solvents Handbook, 5th ed., pp.238-297, Wiliam Andrew Publishing, New York (2002).
· Y. Nagasawa, Y. Nakagawa, A. Nagafuji, T. Okada, and H.Miyasaka, J. Mol. Struct. 735-736, 217 (2005).
· V. I. Kuchuk, I. Y. Shirokova, and E. V. Golikova, Glass Phys. Chem 38, 460 (2012).
· S. A. Parke and G. G. Birch, Food Chem. 67, 241 (1999).
· X. G. Zhang, S. D. Collins, and R. L. Smith, J. Electrochem.Soc. 136, 1561 (1989).
· R. L. Smith and S. D. Collin, J. Appl. Phys. 71, R1 (1992).
· M. N. Islam, S. K. Ram, and S. Kumar, J. Phys. D. Appl.Phys. 40, 5840 (2007).
· D. R. Turner, J. Electrochem. Soc. 105, 402 (1957).
· C. W. Tobias, M. Eisenberg, and C. R. Wilke, J. Electrochem.Soc. 99, 359C (1952).
· P. Mengucci, G. Barucca, A. P. Caricato, A. D. Cristoforo,G. Leggieri, A. Luches, and G. Majnia, Thin Solid Films
· 478, 125 (2005).
· H. P. Klug, X-ray Diffraction Procedures, 2nd ed., pp.687-692, Wiley-interscience, New York (1954).
· G. Gyawali, S. H. Cho, and S. W. Lee, Met. Mater. Int. 19,113 (2013).
· C. Ma, S. C. Wang, R. J. K. Wood, J. Zekonyte, Q. Luo,and F. C. Walsh, Met. Mater. Int. 19, 1187 (2013).
· Z. Sui, P. P. Leong, and I. P. Herman, Appl. Phys. Lett. 60,2086 (1992).
· A. A. Sirenko, J. R. Fox, I. A. Akimov, X. X. Xi, S. Ruvimov,and Z. Liliental-Weber, Solid State Commun. 113, 553(2000).
· Y. He, C. Y. Yin, G. Cheng, L. Wang, X. Liu, and G. Y. Hu,J. Appl. Phys. 75, 797 (1994).
· H. S. Kwack, Y. Sun, Y. H. Cho, and N. M. Park, Appl.Phys. Lett. 83, 2901 (2003).
· M. Song, Y. Fukuda, and K. Furuya, Micron 31, 429 (2000).