1. SEM(주사전자현미경) 주사전자현미경(SEM)은 시료 표면을 전자선으로 주사하여 입체구조를 직접 관찰할 수 있는 전자현미경입니다. 시료 내의 원소에서 발생하는 특성 X선을 분석하는 X선 마이크로 애널나이저와 병용하여 시료 내의 특정 원소의 검출이나 분포를 해석하는 데 널리 사용됩니다. SEM은 주로 시료 표면의 정보를 얻을 수 있고 시료의 두께, 크기 및 준비에 크게 제한을 받지 않습니다. 또한 광학현미경에 비해 집점심도가 2배 이상 깊고 광범위하게 집점을 맞출 수 있어 입체적인 상을 얻는 것이 가능합니다. 2. SEM의 원리...