"Secondary Electron (이차전자)"의 검색결과 입니다.

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주사전자현미경 SEM TEM 장단점 xrd 재료분석기기 전자현미경 FIB mass spectrometry

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"Secondary Electron (이차전자)" 검색결과 1-20 / 144건

서로 다른 전극간격에서 이차전자 방출이 글로우 방전에 미치는 영향에 관한 연구 (Effect of Secondary Electron Emission on the Glow Discharges with Different Electrode Gaps)

대한전기학회 서정현, 강경두

논문 | 6페이지 | 무료 | 등록일 2025.06.15 | 수정일 2025.06.17

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저에너지 불활성 기체이온에 의한 AC 플라즈마 디스플레이 패널용 MgO막의 이차전자 방출특성에 관한 연구 (Study of the characteristics of Secondary Electron Emission from MgO Layer for Low-Energy Noble Ions)

한국진공학회 이상국, 김재홍, 이지화, 황기웅

논문 | 5페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.26 | 수정일 2025.05.14

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전자빔 몬테 카를로 시물레이션 프로그램 개발 및 전자현미경 이미징 특성 분석 (Development of Electron Beam Monte Carlo Simulation and Analysis of SEM Imaging Characteristics)

한국정밀공학회 김흥배

논문 | 9페이지 | 무료 | 등록일 2025.03.18 | 수정일 2025.03.28

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SEM 분석을 통한 이차전지 양극재 morphology 분석_예비보고서

(BSE) ① Secondary Electron(SE) Secondary electrons(SE)는 전자 빔이 샘플 표면에 비탄성 충돌 후 발생하는 전자이다. 이들은 원래의 전자 ... 해서이다. 1. 전자 빔: SEM은 광선 대신 전자 빔을 사용한다. 전자 빔은 광학적으로 focusing되어 샘플 표면을 스캔한다. 2. electron source: 열 발전체 ... 나 필라멘트와 같은 electron emitter에서 전자를 생성한다. 이 전자는 가속기에서 가속되어 샘플 표면으로 이동한다. 3. 가속기 및 샘플: 전자는 가속기를 통해 에너지를 얻

리포트 | 4페이지 | 2,500원 | 등록일 2025.02.05 | 수정일 2025.05.13

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주사전자현미경용 전자검출기의 설계 및 제작 (Design and Manufacture of an Electron Detector for Scanning Electron Microscope)

한국정밀공학회 전종업, 김지원

논문 | 8페이지 | 무료 | 등록일 2025.03.17 | 수정일 2025.03.28

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4주차 FE-SEM 분석 실험 예비레포트

으로 원하는 영역의 정보를 쉽고 빠르게 얻어낸다.SE(Secondary Electron) 디렉터높은 에너지를 갖는 전자가 금속 표면에 충돌하면 그 에너지를 얻어서 금속으로부터 전자 ... 가 방출되는 것이다. 이 전자를 2차 전자라 하고, 이러한 현상을 2차 전자 방출이라 한다. 연못 속에 돌을 던지면 비말이 생기는데 돌을 1차 전자, 비말을 2차 전자로 비유할 수 ... 있다. 강하게 돌을 던질수록 많은 높은 비말이 생기는데 2차 전자 방출의 경우도 마찬가지이다.SE 디렉터는 샘플에서 멀리 떨어져 있다. 시그널은 적게 받지만 샘플의 높낮이는 확실

리포트 | 4페이지 | 1,500원 | 등록일 2024.12.27

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SEM 분석을 통한 이차전지 양극재 morphology 분석_결과보고서

하는지 서술. SE는 Sencondary electron을 이용한 image라는 뜻이다. Secondary electrons(SE)는 전자 빔이 샘플 표면에 비탄성 충돌 후 발생 ... 하는 전자이다. 이들은 원래의 전자 빔과는 별개로 생성되며, 표면과의 상호 작용으로 인해 발생한다. Secondary electrons(SE)의 생성은 주로 샘플의 전기적, 구조 ... 한 SEM 장비 사진. 이번 실험에서는 scanning electron microscopy를 통해 single crystal과 poly crystal의 morphology를 분석

리포트 | 4페이지 | 2,500원 | 등록일 2025.02.05 | 수정일 2025.05.13

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SEM(주사 전자 현미경)의 원리 및 조작 방법

빔을 시료 표면에 주사시료표면에서 2차 전자가 발생2차 전자를 이용하여 입체적인 표면상을 관찰주사전자현미경(SEM)광학현미경(OM)Source전자빔(파장:0.6 nm)자외-가시광선 ... 배 (연속 가변)10~2,000배 (렌즈 교환)상 종류이차전자, 반사전자, X-Ray 등투과상, 반사상동일 생체시료를 관찰한 광학현미경 및 SEM의 이미지(+)(-)(+)(-)e ... 2020@@@@@ 작성자SEM의 동작원리 Detecting Mode SEM 조작방법Index“S” Scanning “E” Electron “M” Microscope가느다란 전자

리포트 | 19페이지 | 1,000원 | 등록일 2024.09.17 | 수정일 2024.09.19

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기기분석실험 4주차 FE-SEM 결과레포트

기 기 분 석 실 험ClassNumberNameDate1. Title: FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscopy)을 사용한 샘플 ... Scanning Electron Microscopy의 약자로, 다양한 고분자 재료로 제작된sample에 전자를 주사하여 표면에 있는 정보를 detecting하여 sample의 표면정보를 얻 ... 는 장비이다.가속화된 전자총을 사용하여 기존의 SEM보다 더 높은 해상도로 관측 가능하며, DLS 디텍터와 같이 추가적인 악세서리를 부착 가능하다.2) FE-SEM 디텍터의 종류

리포트 | 5페이지 | 1,500원 | 등록일 2024.12.22

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재료공학실험2(세라믹) 실험노트6

) mode가속된 전자를 표면에 입사할 때 발생하는 이차전자(Secondary Electron)를 detector로 포집하여 표면의 형상을 분석하는 방법이다. 이차전자는 비교적 에너지 ... 가 낮아 저속으로 운동하며 양으로 대전된 detector에 포집된다.Figure 3. SE mode- BSE(Back-Scattered Electron) mode일차전자가 탄성 산란 ... 을 구현할 수 있는 장비이다.2. 실험 과정1) SEM 분석에 앞서 시편 표면을 Ion spin coater를 이용해 금으로 코팅한다.- SEM은 전자를 시편 표면에 입사할 때 발생

리포트 | 2페이지 | 1,000원 | 등록일 2022.09.08 | 수정일 2022.09.09

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금속,반도체 박막의 전기적 특성 분석 보고서

다시 닫아 chamber에 진공을 잡아준다.측정되는 원리는 전자빔이 시편을 주사하였을 때 튀어나오는 Secondary Electron을 이용하며, 전자가 시료를 통과하는 것이 아니 ... 에서 발생된 Secondary Electron은 detector에 의해 수집된다. 수집하여 image처리과정을 거치면 CRT에 영상화 시킬 수 있다. 이것은 전자의 양에 따라 명암 ... 라 초점이 잘 맞추어진 Electron Beam을 시료의 표면에 주사하는 함으로써 측정된다. 주사된 전자빔이 시료의 한 점에 집중되면 Primary electron만 굴절되고 표면

리포트 | 3페이지 | 2,000원 | 등록일 2022.04.24 | 수정일 2022.11.29

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세포생물학 1단원 정리

for immunostaining (위에 참고)(5) Electron MicroscopyTEMTransmission Electron Microsopy의 약자로 한글로는 투과전자현미경이 ... 세포 1차 정리본-1단원1. (1) Immunostaining세포 내 특정 단백질에 대한 항체를 형광물질로 표지하여 이 단백질의 세포 내 분포를 확인하는 방법.① Primary ... 는 사용되는 빛의 파장, NA는 개구수, 즉 렌즈의 구경이다.(3) Light Microscopy (choose one)Phase-contrast microscopy위상차 현미경

리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2022.07.26 | 수정일 2023.10.13

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MOS Capacitor 제작 및 분석 실험

으로 전자를 사용하여 절연체의 분석에 장점을 가진다.시료의 표면에 전자빔을 조사시키면 이차전자(Secondary Electron), 투과 전자(Transmitted Beam ... ), 후방산란전자(Back Scattered Elctron) 등이 발생된다. 이를 측정함으로써 시료 표면층을 이미지화 하여 구조분석 및 성분분석을 할 수 있다.이차전자(Secondary ... 바깥으로 방출되는 현상을 2차 방출이라고 한다. 이때 방출되는 전자가 이차전자이다. 이것은 양으로 대전된 SE Detector에 끌어당겨져 검출된다. 이차전자의 상은 요철에 의한

리포트 | 22페이지 | 2,500원 | 등록일 2021.11.24

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일반생물학_CH 4. 세포로의 여행_정리

): 시료 내 명암 차이 (대비를 높이기 위해 염색, 표지 등 방법 사용)2) 전자 현미경(Electron microscope, EM)• 가시광선 대신 전자빔 사용• 가시광선의 파장 ... 보다 전자빔의 파장이 짧아 높은 해상력을 가짐주사 전자 현미경(scanning electron microscope, SEM)투과 전자 현미경(transmitting electron ... microscope, TEM)샘플의 표면에 전자빔을 쏘아 3차원상을 제공전자빔이 샘플을 투과,주로 세포의 내부 구조를 연구하기 위해서 이용• 광학 현미경의 기술적 발전- 분자나 구조

시험자료 | 26페이지 | 2,000원 | 등록일 2025.05.28

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[재료공학실험]알루미늄 입도분석실험(체분석)

)? Secondary electron(2차전자)? Auger electron(오제 전자)? X-ray quanta(특성 X선)? Photons(광자)? Heat(열 ... . Scanning Electron Microscope (SEM) 원리1) 개요① 원리전자빔을 시편에 주사시 시료로부터 방출되는 이차전자나 후방산란전자 신호를 이용, 시편의 표면형태를 관찰 ... 하거나, 방출되는 특성 X선을 EDS를 이용, 시편의 성분을 정성 및 정량적으로 분석하는 장비이다.② SEM에서 나오는 신호? Backscattered electron(후방 산란 전자

리포트 | 9페이지 | 3,200원 | 등록일 2022.10.15

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Calcite, Vaterite의 FE-SEM 기기를 이용한 분석

: 검출기를 통해 신호를 포집한다.SE(2차 전자)빔 전자와 비 탄성 충돌로 얻어진 에너지에 의해 시료 표면에서 발생하는 전자이다. 주로 표면형상 관찰로 전체적인 이미지 구성에 가장 ... (Secondary Electron) 또는 반사전자(Backscattered Electron)를 신호원으로 CRT(Cathode Ray Tube)상에 시료와 동시에 주사시켜 한 면(Frame ... 전자의 charge up(대전) 방지(3) 시료표면의 전자밀도 증가로 2차 전자발생증가 및 이미지 콘트라스트 효과Reference1) 이공학을 위한 무기화학실험(이순원), 무기

리포트 | 8페이지 | 2,000원 | 등록일 2021.11.25

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The Challenges of Mass-Production Technology Using EUV

어려운 문제는 고에너지 photon이 resist나 substrate에 흡수되면서 랜덤하게 생성되는 secondary electron이다. 이는 예측이 불가능하고 출발한 지점을 알 ... 생성, 피로 파괴가 일어날 가능성이 높다. 따라서 열적 특성이 좋아야 하며, pump down으로 발생하는 압력 차, 고속 이송 등으로 발생하는 기계적인 충격 또한 감수할 수 있 ... 다. Secondary electron을 발생시키는 stochastic error가 더 빈번하게 발생할 수도 있다. DUV에서는 물리적 width가 작지 않았고, source

리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2022.09.11

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2D-NMR Measurement of a Cis-Trans Isomerization Rate

의 속도차 요인으로는 기기 내 시료의 온도가 자석의 온도인 37℃와 동일하지 않은 것으로 예측된다. 속도상수 k는 온도 역수의 exp값에 비례하기 때문에 작은 온도의 변화도 속도 상수 ... ,N-dimethylacetamide와 acetone간 - interaction 예상 모식도본 실험에서는 속도 상수를 선형회귀법을 이용하여 분석하였다. 이에 대해 속도 상수의 오차 ... 는 amide기 공명 구조의 특징 상 C-N bond의 rotation이 제한되어 cis-trans isomerization의 속도가 일반적인 single bond보다 느리다. 이에 대해 본

리포트 | 4페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.08.25

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백금코팅 나이오븀의 전극 활용 가능성에 대하여 (재료공학실험)

’s Law)(3) SEM그림 3. SEM 사진 SEM은 Scanning Electron Microscope의 약자로 시료에 전자빔을 주사하여 시편에서 발생하는 이차전자 ... (Secondary Electron)의 신호를 검출해 음극선관 화면상에 확대화상을 기록하는 장치이다. SEM을 통하여 시료의 형태, 미세구조의 관찰, 구성원소의 분포, 정성 및 정량적 분석 ... 는 물질이 무엇인지 알아내는 방법이다. 시료에 X선을 조사하면 결정 각각의 원자에 의해 X선이 산란되고, 산란된 X선 중 경로차가 파장의 정수배인 경우 보강간섭이 발생해 검출기로 확인

리포트 | 8페이지 | 8,900원 | 등록일 2021.03.24

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Preparation and Characterization of an X-type Zeolite 예비레포트

전하를 갖는다. 이러한 음전하를 상쇄하기 위하여 다양한 양이온(M+)이 존재한다.TO4단위가 모인 구조를 2차 결합 구조(Secondary building unit : SBU)라 ... 를 Al 원자가 산소 원자 네 개와 정사면체 형태로배위한다. → TO4-2차 쌓음 단위(secondary building unit=SBU)중심원자인 실리콘과 알루미늄 원자가 산소 ... 부르며, Zeolite는 한 종류 또는 여러 종류의 SBU가 3차원적 규칙성을 유지하면서 결합하여 만든 물질이다. 2차 구조는 서로 결합하여 더 크고 복잡한 구조를 만든다. 사각평면

리포트 | 13페이지 | 1,500원 | 등록일 2023.04.04

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