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"Scanning Electron Microscope(주사전자현미경)" 검색결과 881-900 / 1,127건

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  • [공학 > 화학 > 고분자 > 나노]AFM
    SPM의 일반적인 모식도1) SPM의 종류○ STM(Scanning Tunneling Microscope) : 원자현미경 계열 중 처음으로 등장.○ AFM(Atomic Force ... 1 SPM (scanning probe microscope)SPM은 Scanning Probe Microscope의 약자로서 물질의 표면특성을 원자단위까지 측정할 수 있는 새로운 ... 현미경은 제1세대인 광학현미경과 제2세대인 전자현 미경 다음의 제3세대 현미경으로 자리 잡아가고 있다. 광학현미경의 배율이 최고 수 천 배, 전자현미경(SEM)의 배율이 최고 수십
    리포트 | 14페이지 | 1,500원 | 등록일 2004.11.13
  • 나노과학기술의 현황과 실태 및 응용분야
    2nm)(인용 과학동아)원자를 볼 수 있을까?원자현미경(Scanning Probe Microscope)을 이용하여 원자를 볼 수 있다. 원자는 너무 작아서(0.1-0.5nm ... ) 아무리 좋은 현미경로도 볼 수 없다는 기존의 통념을 깨뜨린 원자현미경은 제1세대인 광학현미경과 제2세대인 전자현미경 다음의 제3세대 현미경으로 자리 잡아가고 있다. 광학현미경의 배 ... 율이 최고 수천 배, 전자현미경(SEM)의 배율이 최고 수십 만 배인데 비해 원자현미경의 배율은 최고 수천만 배로서, 개개의 원자를 관찰할 수 있다. 투과식 전자현미경인 TEM도 수평
    리포트 | 11페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.02.20
  • [생물학실험] 현미경의 종류와 구조
    에서 면역검사에 많이 이용되고 있다.2) 전자현미경(EM, Electron Microscope) : 전자현미경은 광학현미경과 달리 유리렌즈 대신 자계렌즈(마그네틱 렌즈)를 이용 ... Microscope) : 원자현미경은 표본의 표면을 캔틸레버 라고 불리는 작은 막대가 주사를 하면, 이 때 캔틸레버 끝에 붙어있는 탐침이 시료 표면에 접근하여 탐침 끝의 원자와 시료 ... 현미경 사용법1. INTRODUCTION(1) 현미경의 종류1) 광학현미경(LM, Light Microscope) : 유리렌즈를 사용하며, 광원(빛)은 가시광선을 이용
    리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2005.04.16
  • [측정]SEM이란?
    system은 전자현미경내에서 전자비임의 진행을 방해하는 공기속의 분자들을 제거한다.Fig. 7 TEM 사진① Illuminating system? 전자총(electron gun ... 에는 추상적인 정보에 불과하다. 따라서 광학현미경전자현미경은 유기물의 세포나 무기물의 미세구조, 혹은 새로운 재료의 개발 및 물성의 향상에 필요불가결한 도구이다. 예로서 금속 ... , 전자빔 등 현미경에서 사용하는 빛은 그 빛의 파장보다 짧은 크기의 물체를 상세히 관찰할 수 없고, 이러한 현상이 광학현미경이나 전자현미경의 한계를 결정한다. 따라서 광학현미경의 분해
    리포트 | 17페이지 | 2,000원 | 등록일 2006.02.02
  • 솔루션을 통해 합성된 나노 결정체 배열의 형태 변경
    었다.합성된 ZnO 필름의 형태는 주사전자현미경(scanning electron microscopy(SEM), PHILIPS)과 전계방출형 주사전자현미경(field emission ... 의 (002) 픽들은 나노로드로 하여금 c축을 확연히 더 선호하게끔 하며 이것은 주사전자현미경(scanning electron microscopy(SEM)) 관찰과 동일하다.하나 ... scanning electron microscopy (FESEM), JEOL 6700)으로 스케닝 함으로써 관찰 되었다. 결정구조가 투과전자현미경(transmission
    리포트 | 28페이지 | 3,500원 | 등록일 2008.06.05
  • xrd
    Debye ring 이라고 한다.계수관을 위 그림의 AA' 에서 주사(Scan) 시켜서 각각의 Debye ring의 X선 강도를 측정하여 기록하는 장치가 X선 디프랙토메타 (X ... 을 때, 방전관 옆에 검은 종이로 덮어놓은 사진 건판이 감광되어 있었다는 사실에서 우연히 발견되었다. 뢴트겐은 방전관 속에서 가속된 전자가 유리관 벽과 충돌해서 방출되는 투과력 ... 지 않는다는 것과 직진하는 성질이라는 것이 분명해졌다.X-선은 고속의 전자가 무거운 원소의 원자에 충돌할 때 발생한다. 가열된 음극 filament 로부터 나온 열전자는 양극표적을 향
    리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.06.28
  • [공학 > 기기분석] 전자현미경 (SEM and TEM)
    이 많이 발달되어 서 고분해능 전자현미경(HREM: High Resolution Electron Microscope)이나 AEM(Analytical Electron ... (TEM)을 사용한 것이 효시 이다. 주사전자현미경(SEM)은 전자비임을 시료의 표면 한점에 촛점을 맞추어 보고자 하 는 시료영역에 걸쳐 "scan" 을 하여야 하기때문에 전자회로기술 ... system은 현미경 column의 맨 위쪽에 위치하면서 필라멘트, shield, anode 등으로 구성된 전자총(electron gun)과 집광렌즈(condense lenses
    리포트 | 30페이지 | 2,000원 | 등록일 2004.11.23
  • [재료 공학] 전자현미경(SEM)
    {주사전자현미경 5 -S E M□ SEM(Scanning Electron Microscope, 주사전자현미경)이란?광학현미경의 최대 확대배율은 1,500배이다. 이 값 이상 ... ∼800,000배)을 얻을 수 있다.{※ SEM의 개발 역사첫번째 주사전자현미경은 1942년 Zworykin et al.1에 의해서 개발되었는데, 전자총이 현재의 주사전자현미 경과 ... 거리는 구별할 수 없다는 이야기가 된다.광학현미경의 이러한 단점을 극복하기 위해서 전자현미경이 개발된 것이다. 광학현미경의 작동원리나 한계에 대한 물리적 법칙들이 전자현미경
    리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2004.05.15
  • [공업기기]공업기기 TEM
    는 관찰할 수 없다.B.SEM주사전자현미경 scanning electron microscope(SEM)은 보다 최근에 개발되었으며 투과전자현미경과는 다소 다르다. 주사전자현미경전자 ... 가 표본을 통과하는 것이 아니라 초점이 잘 맞추어진 전자electron beam을 표본의 표면에 주사한다 주사전자선이 표본의 한 점에 집중되면 일차전자만 굴절되고 표면 ... 에서 발생된 이차전자는 검파기 detector에 의해 수집된다. 그 결과 생긴 신호들이 여러 점으로부터 모여들어 음극선관 cathod ray tube에 상을 형성하게 한다. 주사전자현미경
    리포트 | 10페이지 | 1,500원 | 등록일 2006.04.08
  • [현미경] 주사전자현미경
    주사전자현미경SEM(Scanning Electron Microscope)주사전자현미경의 역사현미경의 구조렌즈의 원리전자총상(Image)의 형성의 원리사용목적사용분야분해능초점심 ... 도시료의 형태◎주사전자현미경의 역사1935년 독일 베를린의 기술대학 교수였던 막스 크롤(Max Knoll)에 의해 주사전자현미경의 원리가 소개되었다. 주사전자현미경의 늦은 발전은 분해 ... . Knoll): 주사전자현미경의 원리 발표(독일)1938년 아르덴네(CM. von Ardenne): 주사전자현미경 제작 (독일)1961년 스미스(K.C.A. Smith): 2차 전자
    리포트 | 16페이지 | 1,000원 | 등록일 2004.02.01
  • 나노의학
    없는 물리화학적 특성 외에도 독특한 전기적, 자기적, 광학적인 특성을 나타낸다.20세기 말 주사터널 현미경(Scanning Tunneling Microscope)이 개발
    리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.12.09
  • FTIR의 원리 및 재료분석장비
    (Energy Dispersive Spectroscopy)정성분석이 가능한 장비로 주로 전자현미경 계열(TEM, SEM 등)에 같이 부착시켜 사용한다. 재료의 표면에 전자현미경의 타겟 ... , diffuse reflectance IR 및 microscope의 부착이 가능하므로, IR은 영역을 다양하게 확장시키는 계기가 되었다.FTIR은 광원에서 나온 복사선의 빛살은 beam s ... 원자들의 화학결합의 회전 및 진동 등 분자의 실제 구조를 반영한다.한 분자를 구성하고 있는 원자들은 외부 자극에 의해 움직이며, 적외선은 가시광선이나 자외선처럼 전자전이를 일으킬
    리포트 | 4페이지 | 2,000원 | 등록일 2010.03.25 | 수정일 2020.12.13
  • [전자현미경관찰] 세라믹미세조직분석
    는 다양한 활용영역을 제공하는 것이 가능하다. 이러한 이유로 전자 현미경은 재료를 연구하는데 있어 필수적인 도구라 할 수 있다.이번 실험은 SEM(Scanning Electron ... Microscope)과 TEM의 견학을 중심으로 전자현미경의 기본적인 원리를 이해하고, 실제의 시편을 이용한 관찰을 수행함으로써 그 활용분야를 확인하는 목적으로 이루어 졌다. 아울러 ... 지 않다. 다만 그 사용용도와 분해능(resolution)에 따라 다른 장비를 이용하는데 다음과 같다.-SEM(Scanning Electron Microscope)SEM에서는 작
    리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2003.06.06
  • 염료감응 태양전지 대해서
    중반부터 주로 연구되기 시작한유기화합물 태양전지는 전자주개(electron donor, D 또는 종종 hole acceptor로 불림) 특성과 전자받개(electron ... electron)가 주입되는 과정.11 이때 전자주입(τinj)은 펨토초 내지 피코초의 매우 빠른 속도로 주입되며, 산화된 염료는 수 나노초 내에 재생된다.12 반면 전자가 표면상태 ... 의 주사현미경(SEM)사진을 보여주고 있다.15 표면 및 단면 사진을 보면 아나타제 TiO2 필름은 20 nm 직경을 갖는 구형의 입자가 매우 조밀하게 채워져 있는 반면 루타일 TiO
    리포트 | 7페이지 | 3,000원 | 등록일 2010.12.23 | 수정일 2022.12.28
  • 사구체신염의 원인, 약물 치료, 개요, 벙태 생리
    의 침착이 흔하다. 때로는 모세혈관의 바깥쪽으로부터 urinary space로 뻗어나는 분리된 단백양침착이 광학현미경에서 관찰되고 전자현미경에서는 electron dense ... 된다. 이런 침착물로 인한 말단부 모세관루프의 심한 침범은 예후가 나쁘며 침착물이 혈관간질에만 나타나면 경과가 좋다.[그림 1]면역 형광현미경상 IgG의 과립상 침착전자현미경 ... deposit이 관찰된다. 적혈구가 원위세뇨관강에 흔하고 거기에서 적혈구캐스트가 만들어진다. 면역형광현미경상 IgG의 과립상 침착이 말단부 모세관루프와 혈관간질에서 보이고 보체의 침착도 동반
    리포트 | 13페이지 | 2,500원 | 등록일 2010.05.13
  • [공학]스핀트로닉스의 이해
    소자(molecular electronics)에 대한 연구가 한창 진행 중이다. 분자전자소자 분야는 반도체를 기반으로 하는 현재의 전자소자기술을 달리 새로운 재료를 이용하여차세대 ... 만으로는 설명이 불가능하고 전자의 스핀방향에 의한 산란의 영향을 도입하여야 한다는 사실을 발견하는 계기가 되었는데, 이는 응용적 측면에서 전자의 전하만을 이용하는 현재의 electronic ... devices가 아닌 전자의 스핀도 함께 이용하는 spin electronics라는 새로운 기술 분야를 탄생하게 하였다.GMR 현상은 박막구조에서 통상 두 가지 방법으로 측정
    리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2007.01.29
  • [기기, 목재] SEM 관찰-침엽수와 활엽수
    1. SEM과 TEM생물체를 연구하는 데 사용하는 전자현미경 electron microscope에는 투과전자현미경주사전자현미경의 두 종류가 있다TEM투과전자현미경 ... 은 거대분자보다 더 작은 구조도 볼 수 있다.SEM주사전자현미경 scanning electron microscope은 보다 최근에 개발되었으며 투과전자현미경과는 다소 다르다. 주사 ... transmission electron microscope은 광학현미경과 그 원리가 비슷하다.전자현미경에서의 광원은 높은 진공 상태(1x10-4 이상)에서 고속으로 가속되는 전자선이다. 전자
    리포트 | 5페이지 | 2,000원 | 등록일 2004.10.05
  • [재료공학실험]빛의 회절
    에서 관찰하기 위해 색 필터를 필요로 할 경우가 많으며 배율은 일반적으로 40~1500배를 기준으로 함.?전자현미경(electron microscope, EM)광학현미경에서 사용 ... ( Transmission Electron Microscope)투과현미경으로 보여 지는 상은 시편을 통과하는 전자빔에 의해서 형성된다. 내부미세구조의 세부사항을 관찰할 수 있다. 상의 명암은 미세구조 ... 도 브래그 반사를 자주 이용한다.3. 현미경 비교 설명?광학현미경(Light Microscope, LM)생물의 조직이나 세포를 유리나 투명 결정에 시료를 만들 어 관찰하고 투과광
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.05.06
  • 10억불분자-탄소나노튜브의 이해
    나노튜브(multi-walled carbon nanotube)를 발견하게 되었다. 연구진은 이 새로운 형태의 나노튜브 내부에 채워진 갈륨의 열팽창특성을 투과전자 현미경 ... (Transmission Electron Microscope : TEM)을 이용해서 측정했다. 그 결과 탄소나노튜브 내부에 채워진 갈륨은 섭씨 50도에서 500도 사이의 온도범위에서 부피변화 ... 라는 새로운 영역이 태동하게 되었고, 이러한 나노 과학기술은 앞으로 21세기를 선도해 나갈 수 있는 과학기술로써 전자정보통신, 의약, 소재, 제조공정, 환경 및 에너지 등의 분야에서 미래
    리포트 | 11페이지 | 2,500원 | 등록일 2008.05.21
  • 표면 분석법 - 광전자 분광법(XPS, UPS 등)의 원리와 응용
    , X-선 광전자 분광법)X-선 광전자 분광법은 앞에서도 얘기했듯이 광전자 분광법의 광원으로 X-선을 이용하는 방법이다. 이 방법은 흔히 ESCA(Electron ... 광전자 분광법의 원리와 응용목차1. 개요2. 표면 분석법이란?2.1 표면분석법의 분류3. 광전자 분광법3.1 광전자 분광법의 분석 원리4. X-Ray Photoelectron ... Spectroscopy (XPS, X-선 광전자 분광법)4.1 X-선4.2 광 전자 스펙트럼4.3 화학적 이동4.4 초고진공(UHV : Ultra High Vaccum)의 필요성4
    리포트 | 19페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.03.06
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2025년 05월 25일 일요일
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