아주대 전자회로실험 설계 예비보고서 2. CMOS 증폭단 설계

목차

1. 실험목적

2. 설계준비

3. 실험 이론

4. 실험선정이유

5. 시물레이션&분석
1) MOSFET 특성 측정
2) 공통 소스 증폭단 특성 측정

본문내용

이번 설계실험은 Common Source (공통소스단)를 설계하여 그것의 특성을 알아보고 설계한 공통소스 증폭단에 약간의 저항을 가해주어 다시 값들을 측정하는 것이다. 우리 조는 추가적으로 PMOS와 NMOS를 이용하여 만든 CMOS 능동부하 증폭단의 특성을 측정하는 실험도 했다. 따라서 처음에는 다른 설계를 하기 위해서 많이 고민하였다. 이번실험에서 원하는 주제는 공통소스 증폭단을 만들어서 특성을 알아보고 그것에 더하여 PMOS를 추가해 결론적으로 CMOS의 특성을 알아보는 것이었기 때문에 이번실험에서 공통소스단의 특성을 분석하고 또한 공통소스단을 이용한 CMOS의 특성을 잘 알아 볼 수 있는 실험회로를 찾았고 그 결과 Degeneration을 사용한 회로를 구성하고자 계획하고 직접 실험하였다.

<중 략>

Common source amplifer-입력 신호가 게이트에 인가되고, 출력 신호가 드레인에서 감지되면, 회로는 공통 소스 단이라고 불린다. 공통 소스라는 용어는 소스 단자가 접지되어 있어, 입출력단에 공통으로 사용된다는 뜻 * 능동부하-능동 디바이스로 만들어진 부하를 말한다. 예를 들면, MOS IC 등에서는 제조 공정을 복잡화하지 않도록 부하로서 MOS 디바이스가 갖는 저항을 사용한다(이득은 부차적으로 생각한다).추가적 실험 이론은 다음과 같다.우리의 회로 선정 이유와도 관계가 있는 부분이다. 바로 회로의 온도나 여려가지 외부환경에 관한것인데, 온도가 높아지면 회로가 뜨거워지는 것은 물론 여러 가지 과부화가 나타나면서 원하고자 하는 출력값이 나오지 않는다.

<중 략>

우리가 회로를 사용함에 있어서 고려해야 될 부분이 많이 있다. 그중 하나가 바로 회로의 온도나 여려가지 외부환경에 관한것인데, 온도가 높아지면 회로가 뜨거워지는 것은 물론 여러 가지 과부화가 나타나면서 처음 회로를 구성하며 생각했던 부분과 전혀 다르게 결과 값이 출력되는 것이 나타난다. 따라서 이 문제를 어느정도 해결하기 위해 나온 것이 회로의 degeneration을 통한 fee

참고자료

· 없음