영상 분석에 기초한 실시간 필름 결함 검출 (Real-time Film Defect Detection based on Image Analysis)

서지정보

· 발행기관 : 한국정보과학회
· 수록지 정보 : 데이타베이스연구 / 24권 / 1호 / 49 ~ 65페이지
· 저자명 : 김성진, 이석룡, 노충호

초록

TFT-LCD 의 주요 구성요소의 하나인 편광필름(polarized film)의 제작 시 여러 가지 형태의 결함이발생할 수 있으며, 이는 제품의 품질에 큰 영향을 주고 있다. 본 논문에서는 마스크( m a s k ) 에 기반한 경계선 검출및 고주파 통과 필터를 이용하여 이러한 결함들을 신속하게 검출하는 결함검출 방법을 제시하고,추출된 결함 영역으로부터 특징 값을 추출하여 결함의 유형을 정확하게 판정할 수 있는 결함유형 판정 기법을 제안한다. 제안한 방법을 검증하기 위하여 실제 산업현장에서 획득한 필름 영상 데이터를 사용한 실험 결과를 제시하며, 실험 분석 결과 제안한 방법은 결함 검출 및 판정에 높은 효율성과 정확도를 달성하였다.

영어초록

During the production of a polarized film which is one of major components of thin film transistor-liquid crystal displays(TFT-LCD), various types of defects might be generated, affecting the productquality. In this paper we provide a method that detects film defects rapidly using the edge extractionbased on mask and high-frequency pass filters, and classifies the types of defects by extracting featuresfrom defect regions. To verify our method, we have conducted experiments using real-world film imagesets. Experimental results show that our method achieved the high efficiency and correctness indetecting and classifying defects.

참고자료

· 없음