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고분자실험 SEM, TEM 예비보고서2025.05.091. 전자 현미경 전자 현미경은 가시광선을 사용하지 않고 0.01nm 정도의 파장을 가진 전자빔을 사용하며, 광학 현미경에서의 렌즈 역할을 전기장이나 자기장이 대신한다. 전자빔의 사용으로 인해 시료에 영향을 줄 수 있으며, 고진공 상태에서 분석해야 한다는 제약이 있다. 전자 현미경은 크게 SEM(주사 전자 현미경)과 TEM(투과 전자 현미경)으로 분류할 수 있다. 2. SEM(주사 전자 현미경) SEM은 이미지가 샘플 표면의 특정 위치에서 전자빔을 스캔하여 형성되는 분석 방법이다. SEM은 표면에서 흩어진 전자들을 수집하며 분석을 ...2025.05.09
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혈구 관찰과 혈액형 판정 실험2025.05.141. 혈구 관찰 혈액은 세포성 요소들이 전체 혈액 부피의 약 45%를 차지하고, 나머지 55%는 혈장으로 이루어져 있다. 혈액 속 세포는 크게 두 종류, 산소를 운반하는 적혈구와 면역에 관여하는 백혈구로 나눌 수 있다. 또한 세포의 작은 조각으로 혈액 응고에 관여하는 혈소판도 혈액 속 세포에 해당한다. 현미경 관찰 결과, 400배율에서는 적혈구만 관찰되었고 백혈구는 관찰되지 않았다. 이는 염색 시간이 부족했기 때문으로 보인다. 2. 혈액형 판정 혈액형 판정 실험의 원리는 항원항체반응이다. A형인 사람의 적혈구 표면에는 항원 A가 존...2025.05.14
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A+ 아동간호학 RDS 신생아호흡곤란증후군 케이스 스터디2025.05.081. 신생아 호흡곤란 증후군 신생아 호흡곤란 증후군(Respiratory distress syndrome, RDS)은 폐의 발달이 완성되지 않은 미숙아에서 폐 표면활성제의 생성 또는 부비의 부족에 의해 가스교환의 역할을 담당하는 폐포가 펴지지 않아 무기폐를 초래하는 대표적인 진행성 호흡부전으로, 유리질막증 또는 초자양막증이라고도 한다. 호흡곤란이란 신생아의 호흡 기능 장애나 일차적으로 폐 성숙의 발달 지연과 관련된다. 2. 원인 미숙아에서 신생아 호흡곤란 증후군이 발생하는 주된 원인은 폐 표면활성제의 분비 부족이다. 폐 표면활성제는...2025.05.08
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신생아 호흡곤란 증후군 케이스 스터디2025.01.161. 신생아 호흡곤란 증후군 신생아 호흡곤란 증후군은 폐의 발달이 미숙하여 폐의 지속적인 팽창을 유지시키는 표면 활성제(surfactant)가 부족하여 호흡곤란이 초래되는 질병으로 주로 미숙아에게 나타난다. 이는 단일 질병으로서는 사망률이 가장 높으며(약 10~20%), 신생아기의 대표적인 질병이다. 재태 기간이 짧을수록, 출생 시 체중이 작을수록 발생빈도가 높다. 발생 요인은 폐 미숙으로 인한 표면 활성제의 생성 부족 혹은 신생아 가사로 인한 기능 억제이다. 임상 증상은 급성기에 초기 산소 호흡을 시작하여 임상 증상이 생후 3일경...2025.01.16
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재료공학기초실험_광학현미경_저탄소강미세구조관찰2025.05.081. Etching Etching은 화학조성, 응력, 결정구조 등에 따라 방법이 다른데 본 실험에서 사용한 Etching 방법은 가장 일반적인 화학부식 방법인 Nital을 사용하였다. Etching은 그 금속표면을 부식을 시킴으로서 입자의 관찰이 용이하게 해준다. 광학 현미경으로 시편을 관찰 한다고 할때 광학 현미경은 반사방식에 의해 조작된다. 나타난 영상에서의 명암은 미세구조의 여러 구역에서의 반사도 차이에 의한 결과이다. 이 미세구조는 적당한 화학 시약을 이용한 표면처리인 etching 에 의해 관찰된다. 만약 시편을 준비할 때...2025.05.08
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현미경 보고서2025.05.081. 광학 현미경 광학 현미경은 대물렌즈와 접안렌즈를 통과한 가시광선에 의해 확대된 시료의 상을 관찰한다. 광원은 가시광선이며, 살아 있는 세포를 관찰할 수 있고 시료의 색깔 구분이 가능하다. 광학 현미경은 물체를 입체적으로 관찰할 수 없지만 최대 1,500배까지 확대가 가능하며, 해상력은 약 0.2 ㎛이다. 2. 위상차 현미경 위상차 현미경은 물질을 통과한 빛이 물질의 굴절률 차이에 의해 위상차를 갖게 되었을 때 이를 명암으로 바꾸어 관찰하는 현미경이다. 빛의 양을 크게 줄이지 않고 현미경의 해상도를 크게 낮추지 않고 현미경 관찰...2025.05.08
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[기계공작실험]연마방법, 시편의 열처리, 경도측정 및 금속현미경 관찰2025.01.241. 연마방법 실험에서는 에멀리 페이퍼를 사용하여 단계적으로 600번에서 1200번까지 연마작업을 진행하였다. 연마 시 한 방향으로 균일한 힘을 가하며 연마하고, 다음 단계의 연마지는 이전 단계의 연마 방향과 직각이 되도록 하였다. 2. 시편의 열처리 시편을 840도에서 유지시간을 가진 후 급랭하는 소입 열처리를 진행하였다. 이를 통해 마텐자이트 조직이 형성되어 경도가 크게 증가하였다. 3. 경도 측정 열처리 전 시편의 경도는 HRA 59.1(HRC 17.2)이었으나, 열처리 후에는 HRC 57.0으로 약 3.3배 증가하였다. 이는...2025.01.24
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[한양대] 일반물리학및실험1 실험3 결과레포트2025.05.041. 마찰계수 이 실험에서는 비탈면을 이용해 샘플의 정지 마찰계수와 운동 마찰계수를 구하고, 마찰계수에 영향을 미치는 요인들을 분석하였다. 정지 마찰계수 실험에서는 나무 샘플의 밑면 넓이와 바닥 표면 거칠기에 따른 차이를 관찰하였고, 운동 마찰계수 실험에서는 비탈면의 기울기와 바닥 표면 거칠기에 따른 차이를 관찰하였다. 실험 결과를 분석하여 마찰계수에 영향을 미치는 요인들을 논의하였다. 1. 마찰계수 마찰계수는 두 물체가 접촉할 때 발생하는 저항력을 나타내는 중요한 물리량입니다. 마찰계수는 물체의 표면 특성, 접촉 압력, 온도 등 ...2025.05.04
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숭실대학교 신소재공학실험2 반도체 소자 전기적 특성 분석 예비보고서2025.01.211. SEM (주사 전자 현미경) SEM은 전자총과 전자선 검출기의 구조를 가지고 있다. 전자총은 전자를 발생시키는 기기이고, 검출기는 시료와 전자선의 상호작용으로 발생한 다른 전자선을 검출하는 기기이다. SEM의 전자총으로부터 나온 전자선은 관측하려는 시료의 표면 원자들과 상호작용하여 이차 전자, 후방 산란 전자, X선 등을 발생시킨다. SEM은 이러한 이차 전자를 검출하여 기본적인 상을 형성하게 된다. 2. AFM (원자력 현미경) AFM은 측정하고자 하는 시료와 AFM 내의 탐침 사이의 미세한 원자간 상호작용을 측정한다. 이를...2025.01.21
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중앙대학교 일반물리실험(2) A+, 보고서 점수 1등 - < 등전위선 결과보고서>2025.05.161. 등전위선 측정 실험 1과 실험 2에서는 고정검침봉의 위치를 고정시키고 이동검침봉을 여러 곳으로 이동시켜가며 검류계의 지시바늘이 0을 가리키는 지점들을 찾아 좌표값을 구해 모눈종이에 나타내는 실험을 진행했습니다. 실험 1에서는 두 원형 전극 사이의 등전위선을, 실험 2에서는 두 긴 직사각형 전극 사이의 등전위선을 측정했습니다. 실험 결과, 전극을 포함한 타원과 포물선의 형태가 나타났으며, 실험 2에서는 실험 1보다 상대적으로 기울기가 큰 포물선의 형태가 관찰되었습니다. 이는 수조의 크기가 작아 발생한 현상으로 판단됩니다. 2. ...2025.05.16
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