디지털 회로 실험 및 설계 - 기본 논리 게이트(Gate) 및 TTL, CMOS I.F 실험 2
2025.05.16
1. 디지털 회로 실험 및 설계
이 보고서는 디지털 회로 실험 및 설계 과정에서 수행한 기본 논리 게이트(Gate) 및 TTL, CMOS I/F 실험에 대한 내용을 다루고 있습니다. 실험에서는 전압 레벨 측정, OR + Inverter 진리표 작성, AND-OR-NOT 게이트를 이용한 XOR 설계, CMOS와 TTL 인터페이스 등을 다루었으며, 이론값과 실험 결과를 비교 분석하였습니다. 오차 분석에서는 전류 측정의 어려움, 점퍼선의 저항, 브래드 보드의 불확실성 등이 원인으로 지적되었습니다.
1. 디지털 회로 실험 및 설계
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2025.05.16