"회로검사"의 검색결과 입니다.

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"회로검사" 검색결과 1-20 / 5,881건

LNA를 위한 새로운 프로그램 가능 고주파 검사용 설계회로 (New Programmable RF DFT Circuit for Low Noise Amplifiers)

대한전자공학회 류지열, 노석호

논문 | 12페이지 | 무료 | 등록일 2025.06.15 | 수정일 2025.06.17

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아날로그 집적회로 결함 검출을 위한 새로운 검사방식 (A New Test Technique for Fault Detection of Analog Integrated Circuits)

한국정보기술학회 노석호, 류지열

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.06.15 | 수정일 2025.06.17

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저잡음 증폭기를 위한 새로운 구조의 검사용 설계회로 (A New Design-for-Testability Circuit for Low Noise Amplifiers)

대한전자공학회 류지열, 노석호

논문 | 10페이지 | 무료 | 등록일 2025.02.14 | 수정일 2025.02.15

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반도체 소자의 DC 특성 검사용 회로설계에 관한 연구 (A study on the circuit design for DC characteristic inspection of semiconductor devices)

한국조명.전기설비학회 김준식, 이상신, 전병준

논문 | 10페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.06 | 수정일 2025.05.17

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핀 드라이버와 접지가딩 기법을 적용한 모바일 디스플레이용 연성회로기판의 ICT검사 시스템 (ICT inspection System for Flexible PCB using Pin-driver and Ground Guarding Method)

대한전자공학회 한주동, 최경진, 이용현, 김동한

논문 | 8페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.01 | 수정일 2025.05.15

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고주파 시스템 온 칩 응용을 위한 온 칩 검사 대응 설계 회로 (On-Chip Design-for-Testability Circuit for RF System-On-Chip Applications)

한국정보통신학회 류지열, 노석호

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.06.13 | 수정일 2025.06.17

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1.8GHz 고주파 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 BIST 회로 (A New Fault-Based Built-In Self-Test Scheme for 1.8GHz RF Front-End)

대한전자공학회 류지열, 노석호

논문 | 8페이지 | 무료 | 등록일 2025.06.16 | 수정일 2025.06.17

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24GHz 차량 추돌 예방 레이더 시스템-온-칩을 위한 자체 내부 검사 회로 및 알고리즘 (Built-In Self-Test Circuit and Algorithm for 24GHz Automotive Collision Avoidance Radar System-on-Chip)

한국정보기술학회 박선영, 류지열, 김성운, 하덕호, 최연욱

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.06.13 | 수정일 2025.06.17

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5GHz 저잡음 증폭기의 성능 검사를 위한 새로운 고주파 Built-In-Self-Test 회로 설계 (Design of a New RF Buit-In Self-Test Circuitfor Measuring 5GHz Low Noise Amplifier Specifications)

한국정보통신학회 류지열, 노석호, 박세현

논문 | 8페이지 | 무료 | 등록일 2025.06.16 | 수정일 2025.06.17

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판매자 표지

<디지털회로실험> 멀티플렉서와 디멀티플렉서, 패리티발생기와 검사기

한다.실험3, 4)?패리티 발생기와 검사기의 개념을 파악하고 구성 방법을 익힌다.2. 실험 과정실험 1)- 그림과 같이 회로를 결선한 후 출력 핀에 LED와 저항 330Ω을 연결 ... 짝수 패리티 발생기/검사기- 그림과 같이 회로를 결선하고, Clock은 함수발생기의 Sync 출력을 이용하며 주파수는 1Hz로 설정한다.- 이때, PRE과 CLR 모두 0의 신호 ... -비트 짝수 패리티 발생기/검사기 회로를 구성하였다.실험 3과 달리 실험 4는 JK 플립플롭을 이용하여 A와 B의 신호를 생성하며, 함수발생기를 이용하여 1Hz를 상단 JK 플립플롭

리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2023.10.24

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[전자]용량성 회로, 검사, 응용

용량성 회로, 검사, 응용? 용량성 리액턴스? 용량성 리액턴스(capacitive reactance),? 저항(R) : 전류의 흐름을 방해, 에너지 손실을 발생, 단위 ... ⇒ 전류가 크면 리액턴스 감소, 전류가 작으면 리액턴스 증가? 직류회로인 경우† 직류전원이 커패시터 양단에 연결될 때† 커패시터를 충전시키기 위해 전류는 짧은 주기()동안만 흐름 ... † 충전 주기가 끝난 후 더 이상의 전류는 흐르지 않으므로⇒ 커패시터의 용량성 리액턴스는 무한대(최대값)? 교류회로인 경우† 커패시터의 충?방전의 반복으로 항상 회로 내에 충?방전 전류

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 31페이지 | 1,500원 | 등록일 2006.04.24

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[정보통신회로실험]베타적or게이트, 페리티회로검사, 2진수

함수배타적 OR 함수에 대한 심볼은 이다.아래 그림은 배타적 OR 게이트의 진리표와 논리 심볼이다...PAGE:4배타적 OR 게이트..PAGE:5패리티 검사 회로패리티는 2진수 ... 에서 1의 개수를 말하는 것짝수패리티-1의 개수가 짝수홀수패리티-1의 개수가 홀수Ex) 2진수 1001110 짝수 패리티2진수 1110011 홀수 패리티..PAGE:6패리티 검사 회로 ... 한다...PAGE:112진수2진수 시스템1 과 0인 2개의 다른 상태디지털회로에서 전압 레벨 정의1 = +5V dc = +Vcc0 = 0V dc = GND..PAGE:122진수LSB

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 21페이지 | 2,000원 | 등록일 2006.05.02

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[회로실험] 패리티 발생기와 패리티 검사기

고,수신측에서 패리티를 검사하는 회로를 패리티 검사기(Parity Checker)라고 한다.① 패리티 발생기- 홀수 패리티 비트를 이용하여 3비트의 정보를 전송하는 경우를 생각해보 ... 실험6. 패리티 발생기와 패리티 검사기1. 실험목적(1) 패리티 발생기(Parity Generator)와 패리티 검사기(Parity checker)의 제약조건과 쓰임, 동작 ... 을 설명할 수 있다.(2) 홀수나 짝수 패리티(Even or Odd Parity)를 가진 2진수를 확인할 수 있다.(3) 실험을 통하여 주어진 2진수로서 회로를 구성할 수 있다.2

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2003.06.09

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[신경][신경세포]신경과 부교감신경, 신경과 교감신경, 신경과 뇌신경, 신경과 신경원, 신경과 신경세포, 신경과 신경아교세포, 신경과 신경검사, 신경과 신경증, 신경과 신경회로

신경과 부교감신경, 신경과 교감신경, 신경과 뇌신경, 신경과 신경원, 신경과 신경세포, 신경과 신경아교세포, 신경과 신경검사, 신경과 신경증, 신경과 신경회로 분석Ⅰ. 신경 ... , 신경초세포 Neurilemma Cell)2) 신경절 아교세포(Satellite Cell, Capsular Cell)Ⅶ. 신경과 신경검사1. 오추의 운동범위(Rahnge of ... motion of the lumbar spine)1) 굴곡2) 신전3) 회전4) 측면굴곡5) 신속한 검사6) 고전적 의미7) 임상적 의미8) 유의사항2. 아담의 자세(Adam's

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 14페이지 | 6,500원 | 등록일 2013.04.26

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[논리회로]Exclusive-OR게이트 및 패리티 검사기

이 HIGH, 다른 논리이면 LOW」를 나타내는 논리 게이트로 논리식, 논리 기호는 [그림 4-2]와 같으며, 진리표는 와 같다.3. 패리티 검사기 2진 비트 ... (bit)의 합이 홀수이면 홀수 패리티(odd parity), 짝수이면 짝수 패리티(even parity)라고 하는데 이를 검출해 내는 것을 패리티 검사기라 한다. 예를 들

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 11페이지 | 1,000원 | 등록일 2002.12.05

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기초회로실험 - 20 커패시터 - 결과 레포트

제대로 측정되고 있는지 확인해 본다.실험 데이터C1 저항계 검사법C5 저항계 검사법C1 전압계 검사법C1 전압계 검사법결과분석 및 결론실험에 앞서 커패시터에 대해 알아보 ... 자. 커패시턴스의 기본 성질은 전하를 저장하는 능력이 있다. 또한 직렬회로에서 커패시터는 같은 시간 동안 같은 전류가 흐르므로 각 커패시터에 충전된 전하량은 서로 같으면 이것은 또한 전압원 ... } =C _{1} +C _{2} + CDOTS +C _{n}이렇게 사용할 수 있다.첫 번째 실험에서 표 에서 저항계 검사법(합격/불합격)은 C1 (100 μF), C2 (47μF

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 2페이지 | 2,000원 | 등록일 2021.01.27

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반도체공정정비요약

한 진재료 웨이퍼 마스크 리드 프레임반도체 수율불량률의 반대. 투입량 대비 제조되는 생산률의 비율CUM 수율 = 가공 수율 * 선별 수율 * 패키지 * 수율 최종 검사 수율개발 제품 ... 수율 50%, 생산단계 60~70% 골든 수율 80%반도체 용어 정리웨이퍼 용어칩, 다이 : 반도체 공정에서 가공된 전자회로가 들어간 아주 작고 얇은 네모난 반도체 조각.스크라이브 ... . 수평함.칩 용어금속배선 : 그늘에서도 보이고 돌출된 형태회로표시 : 회로 번호표시는 하단에 위치 보통 제조 판매 회로번호는 서로 다름오염 : 발견되는 오염은 실내먼지보다 훨씬

Non-Ai HUMAN
| 시험자료 | 19페이지 | 1,500원 | 등록일 2021.07.16

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설비제안서 및 회사소개서

) 의 pattern 불량을 검사하는 장비임 (Ag Pattern) | 특 징 Film sheet 의 Silver Pattern 에 대한 검사가 가능함 Open, Short, Mouse ... bite, Pin Hole 등 검사가능 별도의 독립 장비형태를 가짐 비접촉 검사 방식으로 제품에 손상이 가지 않음 측정시간이 빠르며 신속한 판정이 가능함 제품변경에 따른 세팅이 쉽 ... 고 분류하는 장비임 검사특성에 맞는 광학계를 구성하여 원하는 검사가 가능하게 함 LCD Glass 뿐만 아니라 PDP, 강화유리 등에 적용 가능함 | 핵심경쟁력 Glass 관련 검사

ppt테마 | 24페이지 | 2,500원 | 등록일 2023.07.27 | 수정일 2025.03.21

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터빈 로타 디스크 키웨이의 초음파 균열 평가를 위한 신경회로망의 적용 (Application of a Neural Network to Ultrasonic Crack Evaluation of a Turbine Rotor Disc Keyway)

한국물리학회 손영호, 이종오, 윤운하, 서원찬, 조승일, 이종규

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.07.13 | 수정일 2025.07.20

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신경회로망을 이용한 터빈로타 디스크 키웨이의 결함 검출 (Ultrasonic Flaw Detection in Turbine Rotor Disc Keyway)

한국비파괴검사학회 손영호, 이종오, 윤운하, 이병우, 서원찬, 이종규

논문 | 46페이지 | 무료 | 등록일 2025.07.13 | 수정일 2025.07.20

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