"Scanning Electron Microscope(주사전자현미경)"의 검색결과 입니다.

기간
- 전체
- 3개월
- 6개월
- 1년
- 2년
- 3년
- 5년
직접입력

적용
연관순
- 연관순
- 최신순
영역
- 전체
- 제목
- 본문
- 태그
페이지 수
- 전체페이지
- 1 페이지 ~ 5 페이지
- 6 페이지 ~ 10 페이지
- 직접입력 페이지 ~ 페이지 적용
확장자
- 전체
- 한글
- PDF
- MS워드
- MS엑셀
- MS파워포인트
- 압축파일
- 기타
할인자료 보기

연관검색어

주사전자현미경 금속 조직 관찰 sem afm 현미경 종류

판매자 표지는 다운로드시 포함되지 않습니다.

"Scanning Electron Microscope(주사전자현미경)" 검색결과 541-560 / 1,126건

AFM

하여 주사탐침 현미경 (SPM-Scanning Probe MicroScope)으로 불리운다.그림1. SPM의 원리5. SPM의 측정기능① 액중 Contact AFM (Fluid ... 시켜 측정하며 Coulombic이나 반데르발스 힘에 반응한다.3.주사탐침현미경(scanning probe microscope, SPM)나노테크놀로지를 선도하고 있는 핵심기술은 지난 80 ... 년대에 발명된 STM(Scanning Tunneling Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)을 포함하는 원자현미경(Scanning Probe

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 24페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.05.29 | 수정일 2016.10.19

다운로드 장바구니
현미경의 종류와 원리 및 특징

Microscope)18. 주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope)19. 투과전자현미경 (Transmission Electron Microscope)참고문헌1 ... 은 직교다.18. 주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope)①정의10-3Pa이상의 진공 중에 놓여진 시료표면을 1-100nm정도의 미세한 전자선으로 x-y ... (Fluorescent Microscope)10. X선현미경 (X-ray Microscope)11. 주사형 현미경 (Scanning Probe Microscope)12. 공초점 레이져

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 14페이지 | 1,500원 | 등록일 2008.06.01

다운로드 장바구니
SEM&TEM

. von Ardenne2,3이 주사전자빔을 이용하였으나 이는 얇은 시편을 투과하는 전자빔, 즉 STEM(scanning transmission electron microscope)이 ... : SEM과 TEM을 통해 전자현미경에대해 알아본다.□ 실험원리● 광학현미경(LM, Light Microscope)유리렌즈를 사용하며, 광원(빛)은 가시광선을 이용한다. 따라서 칼라 ... 그 입체상을 관찰할 수 있다. TEM이나 SEM은 각각의 camera system을 통하여 관찰 즉시 촬영을 할 수 있게 되었다.● 주사전자현미경(SEM)○ 주사전자현미경(SEM

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 23페이지 | 5,000원 | 등록일 2009.02.23 | 수정일 2020.09.15

다운로드 장바구니
재요공학실험 ( 현미경의 종류와 원리 )

들은 전자현미경의 종류에 관계없이 모두 발생하는데, 세부적인 사항으 로서 주사전자현미경과 투과전자현미경에서 차이가 있다.주사전자현미경 (SEM, Scanning Electron ... 영상을 보여 준다.투사전자현미경 (TEM, Transmission Electron Microscope)?투사전자현미경은 기본적으로 도립광학현미경과 유사하지만 광선 대신 전자빔 ... Microscope)표본에 중금속으로 얇게 막을 씌운 다음, 전자 형미경에서 렌즈로 작용하는 코일로 표본 위의 한 점에 전자빔을 투사해 표본을 주사한다. 전자빔이 표본 표면 위의 연속

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.07.01

다운로드 장바구니
FIB (Focused Ion Beam) 자료조사

장치는 집속빔을 시료 표면에 주사해서 발생되는 2 차 이온등을 검출한 현미경상을 관찰 또는 시료 표면을 가공하는 장치 입니다 . 3 이온원 Aperture 집속 렌즈 ... 하는것이 일반적입니다 . 4 Ga Ion Beam Gas Nozzle (Assist Gas) 2 차 전자 검출기 Secondary Electron Detector Sample ... (Focus) 을 맞추어 주사 시킵니다 . Ion Beam 의 경우 전계를 이용하여 진공중에 설치된 전극에 고전압을 인가 해서 방전되지 않도록 해야 합니다 . 만약 전자석을 이용

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 12페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.05.14

다운로드 장바구니
[고려대 재료공학실험 예비보고서] Carbon Nanotube의 화학적 산 처리

정도 된다.아래 CNT가 응용되는 분야를 간단히 정리한 것이다. 디스플레이, 메모리, 나노센서, 전자현미경 침, 복합재료 등 다양한 분야에 응용이 가능하다. 디스플레이, 복합재료 ... 할 수 있는 제품을 만들 수 있다.[이미징]나노 수준의 측정 및 분석에 CNT가 활용되고 있는데, 일례로 AFM(atomic force microscope) 탐침 팁 ... 시킨다. HNO3에 의한 functionalization은 tube cap이 열리는 역할을 하지만 기본적으로 그들의 electronic, mechanical한 성질들은 유지가 된다

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2016.03.17

다운로드 장바구니
현미경의 종류와 구조 및 사용법 예비 레포트

. Scanning electron microscope (SEM): 시료의 표면을 gold 등으로 coating하여 전자가 반사/산란되는 상을 관찰하여 3차원적인 영상을 얻는다. 해부 현미경 ... , Electron Microscope)으로 구분된다. 광학 현미경과 해부 현미경은 광원으로 가시광선을 이용하며 전자 현미경은 전자빔을 이용한다.1) 광학현미경(LM, Light ... 현미경(EM, Electron Microscope)단파장의 전자빔의 광원으로 이용하여 배율과 해상ㄴ력이 뛰어나며 상을 얻는 방법에 따라 다음의 두 가지 종류로 나뉜다

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.07.09

다운로드 장바구니
sem의 원리와 구조

Scanning Electron Microscopy 원리전자현미경은 높은 에너지의 전자빔을 이용하여 전자가 시편과 충돌할 때 발생하는 이차전자 , 반사전자 , X- 선 등을 검출 ... 하여 확대상을 촬영 하는장 치 . SEM (Scanning Electron Microscopy) 이란 ?특 징 1. 매우 높은 분해능을 가진다 2 . 고배율 뿐만 아니라 저배 ... 시편 준비과정이 간편 6. 대상물에 대한 화학정보도 얻을수 있다 . 7. 진공을 유지해야 한다 .SEM 원리 전자 총 전자총의 역할은 전자를 만들고 가속시키는 역할을 한다구동 원리

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.05.26

다운로드 장바구니
AFM정의, 특징

1. AFM이란?원자간력 현미경 (Atomic Force Microscope, AFM)은 주사 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류 ... 로 측정할 수 있다.현재는, 다른 주사 프로브 현미경과 같이 공간분해능은 탐침 끝의 두께(나노미터 크기)에 따라 달라지고, 원자 수준까지 볼 수 있다.특히 반도체 기판용 실리콘 웨이퍼 ... (나노미터)정도의 미세구조.2)Si 웨이퍼, 광학부품, 박막 등의 정밀가공 표면의 거칠기 측정, 단면형상계측.3)전자현미경으로 관찰하기 어려운 절연시료 (고분자, 유기박막, 세라믹) 관찰.

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 2페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.10.04

다운로드 장바구니
현미경의 역사와 종류, 특징

분포 관찰8) 함금등의 표면전위분포의 관찰9) 빛의 파장이하의 미소영역의 광학적 특성 관찰㉧ 공초점 레이져 현미경(Confocal Laser Scanning microscope)앞서 ... 적으로 상이 뒤집히지 않고 정상으로 보인다.?㉡ 공구현미경 (工具顯微鏡, toolmaker's microscope )공작용 커터 ·게이지 ·나사 등의 치수 ·각도 ·윤곽 등을 재는 측정 ... 어서 여기에 이동 거리가 표시되어 시료의 크기를 측정할 수 있다㉢ 생물 현미경 (生物顯微鏡,Biological microscope )미생물, 동식물의 세포, 약학 연구에 쓰이

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 13페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.10.27

다운로드 장바구니
주사전자현미경(SEM)

Microscope)과 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)으로 구분할 수 있다. 이의 구조상 차이는 광학현미경의 투과형과 반사형의 차이와 같다고 하 ... Electron Microscope, TEM) 이 먼저 완성되었고, 약 20년 후인 1935년에 독일의 Max Kroll에 의해 TV와 비슷한 결상방식의 주사전자현미경이 제안 ... 을 전자선이 시료면위를 면상으로 주사(Scanning) 할 때 시료에서 발생되는 여러거지 신호중 그 발생확률이 가장 많은 이차전자 (Secondary Electron) 또는 반사전자

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 23페이지 | 1,500원 | 등록일 2008.12.18

다운로드 장바구니
판매자 표지

[기기분석실험]X-ray Diffraction (XRD) of NaCl

은 Digital 양으로 출력한다.X-ray 발생X선(X-Rays)은 진공중에서 고전압에 의하여 가속된 초고속의 전자(Electron)를 만들어 음극(Target)에 충돌 시키면 발생 ... 한다. ^{-9} Z Ve : X선(X-Rays) 발생효율 Z : Target 원소의 원자번호V : 전자(Electron)의 가속전압 (V) X선관(X-Ray Tube) 에서 얻을수 ... 축 : Rocking-curve 측정시 사용되며, 2θ를 고정(카운터 고정)하고 시료만θ로 회전하며 측정하는 방법주사방법(Scan type) 선택① 연속적 주사(Continuous

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 9페이지 | 3,500원 | 등록일 2015.04.08 | 수정일 2020.07.28

다운로드 장바구니
nano pre

의 특성을 측정하기 위해서는 나노크기에 맞는 새로운 측정방법이 개발되어야 한다. STM(Scanning Tunneling Microscope, 주사형터널링현미경), AFM(Atomic ... 은 실공간에서 원자 개개를 관찰하는 주사투과현미경(Scanning Tunneling Microscopy: STM)의 개발과 이를 이용하여 원자들을 보여준 사진들에 의해 시작되었다고 할 ... Force Microscope, 원자간력현미경)은 나노해상도를 가지고 있으므로 기존의 장치로 사용할 수 있다. 예를 들어 나노크기 재료의 성분분석을 위해 투과전자현미경에 저전자

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 10페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.02.10

다운로드 장바구니
sn의 소결온도에 따른 시편의 물성 분석

,대에는 반응성기체를 사용하는 건식 에칭이 있다.)6.측정1[OM; Optical Microscope]일반적인 광학현미경(Optical Microscope)은 표본에 빛을 비추 ... ◎차례◎1. 실험목적2. 실험개요3. 실험순서 및 실험원리1.성형2.열처리(소결)3.경도측정4.폴리싱(Polishing)5.에칭(Etching)6.OM(광학현미경)7.XRD4 ... 을 부식시켜서 광학현미경 관측 시 Grain Boundary를 구별할 수 있도록 하게 만드는데 있다. 폴리싱만 한 경우 현미경으로 관찰을 하면 경면가공이 되어서 아무런 조직도 관찰

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 14페이지 | 2,000원 | 등록일 2013.12.30

다운로드 장바구니
전자 현미경 사용법 보고서

의 배경생물학자들은 세포 표면의 형태를 자세히 연구하기 위해 주사전자현미경(scanning electron microscope)을 이용하는데, 주사전자현미경은 금속으로 도금된 세포 ... 한 전자를 검출기로 인식하는 원리로 작동한다.①투과형 전자 현미경(transmission electron microscope): 고전압의 전자 빔을 쏘아 얇게 자른 생물의 조직을 투과 ... 등의 단점을 가지고 있다.②주사형 전자 현미경(scanning electron microscope): 주로 시료 표면의 정보를 얻을 수 있고 시료의 두께, 크기 및 준비에 크

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.06.24

다운로드 장바구니
Biological visualization methods ; Microscope - SPR, 4pi, NSOM, NALMS, PALM

Microscopy)◎ Near-field Microscope? 광학 현미경은 원격장(far-field) 현미경과 근접장(near-field) 현미경으로 나눌수 있다.원격장 현미경은 전통적인 ... 으로 영상화가 가능하다.◎ NSOM(Near-field Scanning Optical Microscope)? 초기의 NSOM은 광섬유를 광원 및 탐침으로 쓰는 방식이 주류를 이루 ... 분석이 가능하다.◎ ANSOM(Apertureless Near-field Scanning Optical Microscope)? 일반적인 광섬유 탐침의 효율은 매우 낮은데(정도

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.05.02

다운로드 장바구니
SEM결과레포트

(brittle) 파단면 특성을 광학현미경이 아닌 주사전자현미경을 이용하여 관찰함으로써 파단면의 특성을 보다 정확하게 관찰하고 이해하는 데 있다. 또한 주사전자현미경은 광학현미경 ... , Failure analysis, Metallurgy 등 재료공학에서 주로 사용된다.2. 본 관찰에 사용된 SEM 장비의 특성을 조사하시오.중앙대학교 공동기기원에 있는 주사전자현미경 ... SEM의 원리 및 구조에 대해서 학습했었는데, 파단면 특성을 광학현미경이 아닌 주사전자현미경을 이용하여 관찰함으로써 파단면의 특성을 보다 정확하게 관찰하고 이해할 수 있었다. 기계

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2014.03.29

다운로드 장바구니
재료의 미세구조 측정

적으로 사용되는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy, SEM)은 배율 X 100,000 이하의 고배율 이미지를 얻을 수 있고, FE-SEM(Field ... Emission Scanning Electron Microscopy)는 최고 X 500,000의 배율로도 재료를 관찰 할 수 있다. 주사전자현미경 사진을 통해 재료 단면형상의 관찰 ... 알아보시오.(1) SEM(SCANNING ELECTRON MICROSCOPE)a. 개 요: 관찰하고자 하는 재료의 표면은 현미경으로 관찰하면 석출상이나 결정립의 크기 및 형상 등

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 25페이지 | 3,700원 | 등록일 2008.12.20

다운로드 장바구니
AFM(Atomic Force Microscopy, 원자 현미경)

Microscope)으로 인해 나노세계가 열렸다. 원자현미경의 효시는 STM(Scanning Tunneling Microscope)이며 가장 널리 쓰이는 원자현미경은 AFM(Atomic ... 있다.4. 실험원리▨ 원자현미경원자나 분자단위의 미세한 나노세계는 이전에는 볼 수 없는 영역이었으나, 1980년대에 발명된 원자현미경(SPM: Scanning Probe ... Force Microscope)이다. 그밖에 표면의 마찰력을 재는 LFM, 시료의 경도를 재는 FMM, 자기력을 재는 MFM, 시료의 전기적 특성을 재는 EFM 등 다양한 원자현미경

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 15페이지 | 6,000원 | 등록일 2010.06.12 | 수정일 2020.09.15

다운로드 장바구니
광량자와 물질파

확정성을 함께 줄이지 못하는 경우가 있음터널링 (장벽스며넘기)1. 파동성에 의한 포텐셜 장벽 터널링2. 보기: 주사 터널링 현미경(STM: Scanning Tunneling ... Microscope)기본구조 흑연표면의 영상40장 물질파40-1 원자구성? 원자를 이루는 전자, 양성자, 중성자는 모두 물질파로 기술됨? 이 물질파에 대한 파동방정식은 쉬뢰딩거 방정식40 ... * 광전효과1. 정의깨끗한 금속표면에 가시광 또는 자외선을 비추면 금속표면에서 전자가 튀어나오는 현상.2. 실험장치 및 실험결과3. 설명 (A. Einstein, 1905

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 10페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.10.16

다운로드 장바구니

이전10개 23 24 25 26 272829 30 31 32 다음10개

파워링크

신청하기