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"probe(탐침)" 검색결과 481-500 / 652건

  • [물리화학][물리화학실험] STM을 이용한 HOPG의 C(탄소) 결합 길이 측정[SPM]
    하는 주사탐침현미경 (Scanning Probe MicroScope)이다.원자는 그 크기(0.1∼0.5nm)가 너무 작아서 어떠한 기존의 현미경으로도 볼 수 없다는 기존의 통념 ... (Scanning Probe MicroScope)의 의미와 원리SPM은 STM과 AFM을 통칭하여 부르는 용어이며 그 원리는 다음과 같다. STM은 최초로 개발된 주사탐침 현미경으로서 시료 ... 와 탐침(Probe)과의 거리가 매우 근접 되었을 때 시료와 탐침사이에 흐르는 턴넬(tunnel) 전류를 이용하여 시료표면의 궤적을 주사하여 형상화하는 기능이다.AFM의 경우는 잘
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.04.14
  • 판매자 표지 자료 표지
    [재료공학] STM과 AFM의 원리와 응용분야
    Microscope) 자성체(코발트,크롬,니켈등)를 표면에 입힌 탐침 을 사용하여 시료의 자기적 특성을 알아내는 장치 이다.STM에 대하여[Scanning Tunneling ... Microscope, 최초의 원자 현미경] 시료와 탐침사이에 흐르는 턴넬(tunnel) 전류를 이용 시료표면의 궤적을 주사하여 형상화하는 기능 전류가 흐를 수 있는 도체에서만 사용가능1 ... . STM의 정의STM에 대하여텅스텐이나 백금선을 부식시킨 탐침을 도체에 원자거리로 접근 탐 침 끝에는 원자 몇 개만 존재 시료와 탐 침 양단간에 전압을 걸면 터널링 현상 에 의한
    리포트 | 21페이지 | 30,000원 | 등록일 2007.05.21 | 수정일 2019.06.18
  • 아동의 진단검사
    cc/kg)학동이상:전일 20시 라키소베론(0.4cc/kg) 내복식도산도 검사 (pH probe study : Esophageal pH Monitoring)1) 목적ㆍ역류량. 역류 ... 은 피하고 발달단계에 맞는 용어로 진행방법을 설명한다.② 준비물품 :장갑, 측정테잎, pH 탐침, 윤활제, 반창고,transparent 드레싱, 전도자 젤, 전도자 유도 금속선 ... 부터는 금식한다.② 탐침을 아동의 콧구멍 또는 구강을 통과시키고 기관에 의해 사용되어진 측정법에 따라 위치를 표시한다.③ 흉부사진 촬영을 위해 방사선과에 아동을 보낸다 .④ 전문 방사선
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.01.03
  • nanotechnology
    ㎛ 즉,100nm의 시대 예상 - 현재의 리소그래피 [전자선(E-beam), 극자외선(Extreme Ultra Violet : EUV), X선, 이온 빔 등] 주사형 탐침 현미경 ... (Scanning Probe Microscope : SPM)을 이용한 리소그래피나노 공정 및 제조 기술Bottom-up 접근 방법 - 자체조립 시스템나노 각인(Nano-imprint
    리포트 | 20페이지 | 3,000원 | 등록일 2010.06.23
  • 심초음파와 경식도초음파
    의 피부 표면에 탐촉자를 놓고 이동시킨다.㉤ 심장의 각부위에 초음파가 잘 도달할 수 있도록 수직체위에서 탐침(Probe)을 정해진 위치에 높고 체계적으로 검사한다.㉥ 반향되는 음파
    리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.07.30
  • DNA microarray 원리와 적용
    로 존재하고 있음으로 이들은 서로 같은 비율로 탐침 유전자(probe) 에 반응을 하게 된다. 이는 초록색과 빨간색이 같은 비율로 섞어 색상이 나타남으로 결국 노란색으로 보이 ... 수소결합; RNA인 경우 A-U, G-C). 이는 염기결합 법칙에 근거하여 마이크로어레이 상의 probe에 알려 지거나 알려지지 않은 유전자 target들을 결합시켜 유전자 발현 ... microarray 는 유리판 위에 각각의 해당 유전자를 대표 수 있는 probe 로서 DNA 조각 (PCR product)을 집적하여 고정 시킨 것으로 이는 전형적인 DNA
    리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2007.12.24 | 수정일 2019.08.20
  • Stereotactic aspiration ppt수술간호, ICP 수술간호 ppt, 신경외과 수술간호 ppt
    를 이용하여 원하는 표적에 전극(electrode)혹은 탐침(probe) 등을 삽입하는 수술방법을 의미한다.X, Y, Z 좌표를 구하는 방법X = 100 + X1 Y = 100
    리포트 | 37페이지 | 3,000원 | 등록일 2011.03.28
  • 기본간호. 활력징후
    는다.2. 대상자에게 “고막체온을 측정 하겠습니다.”라고 알린다.3. 탐침(probe)에 일회용 덮개를 씌운다.4. 작동 시 바로 외이도 속으로 탐침의 끝부분을 넣는다. 탐침의 끝 ... 이 이도에서 작동되도록 맞게 끼운다.5. 전자체온계의 버튼을 누른다.6. 체온계를 제거하고, 화면에 나타난 체온을 읽는다.7. 탐침의 덮개를 제거하고 버린다.● 주의사항1) 탐침은 온도
    리포트 | 9페이지 | 3,000원 | 등록일 2009.04.23 | 수정일 2025.02.25
  • 성병-클라미디아
    하거나 IgM을 발견하면 진단▷ 유전자 검사법인 DNA 소자(probe)법1. 경부 도말검사에서 항원 검출2. 경부 분비물에서 클라미디아 배양3. 남성의 경우 백혈구 수치를 위한 ... 하는 방법도 있다. 미국식품의약청(FDA)에서 공인된 방법이지만 모든 병원에서 이 검사가 가능한 것은 아니다.2. 분비물에서 클라미디아 균을 배양하는 방법도 있다.3. 유전자 탐침 ... 검사(DNA probe test)도 분비물을 가지고 검사하는 방법이다. 배양검사에 비하여 가격이 저렴하다.4. 분비물에서 항체검사를 하기도 한다. 항체검사는 다른 검사에 비하여 방법
    리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.09.21
  • 구강보건 통계학
    (탐침의 끝은 걸리지만, 연화치질이나 유리법랑질을 확인할 수 없는 소와나 열구)우식치아(D,d)-연화치질이나 유리법랑질이 탐지되는 병소를 가진 치아-한개 이상의 치면에 충전물이 있 ... 이나 밴드 장착한 치아(3)치주조직 검사지침-치경, CPI probe로 검사-3분악 단위로 검사, 해당 3분악은 발거대상치아를 제외하고 자연치가 2개이상존재할 때 인정-치주조직상태기록건강 ... 병으로 잘거되었다고 판정되는 치아치석한 개이상의 치면에 치석이 부착되어 있는 사람(치석확인시 탐침 사용)?영구치 우식증 통계★rate=×100index1.영구치우식경험률(DMF
    시험자료 | 8페이지 | 3,000원 | 등록일 2013.04.06
  • 하부호흡기계 건강사정 -2
    의 산화포화도(산소로 포화된 헤모글로빈을 백분율로 판독) 탐침(probe): 손가락, 발가락, 귀 부착 혈압측정을 위한 커프, 압박붕대, 동맥내 장치, 체내 카테터 삽입부위아래는 탐침
    리포트 | 31페이지 | 2,000원 | 등록일 2011.02.22
  • Southern blotting
    하는 것이다. 이 경우 vector DNA로는 플라스미드, 파아지와 비루스의 DNA가 이용된다. 혼성체화 과정에서 사용되는 DNA를 탐침이라고 부른다.가장 일반적으로 사용되는 기술 ... 는 제한효소로써 여러 단편으로 자른다. 그리고 각 단편을 젤 전기영동에 의해 분리하고 혼성체화를 이 모든 단편에 대해 행한다. 여러 가지 방법으로 탐침이 붙은 특정 단편의 위치 ... 에 흡착시켜 고정시킨다.- 이렇게 준비된 filter와 방사선 동위원소로 표지한 probe를 수용액 중에서 hybridization- Filter를 X선 필름에 노출시켜 방사선
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.10.07
  • 유도형 근접센서
    (capacitor or condensor) 로서 동작하고, 센서 탐침(probe) 의 전체 용량 성분이 올라간다. 이것이 내부 발진기의 기동신호가 되어 출력단을 켜게 되고 출력신호를 보낸다
    리포트 | 10페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.12.16
  • 판매자 표지 자료 표지
    대구경 타설 말뚝 조사,건전도평가기법,BIPS,시추공내촬영기법,충격응답기법
    이 단점이다.2) 한국도로공사 시방규정◈ 검사용 강관설치- 강관은 측정탐침(probe)이 왕래하는데 지장을 초래하는 결함이 없어야 하며, 방수 및 내?외부가 청결하여 부식이 없고 외부
    시험자료 | 18페이지 | 1,500원 | 등록일 2013.11.21 | 수정일 2013.11.26
  • 고분자의 표면과 계면 과 분석기기(SEM,TEM,STM,AFM)
    MicroscopeScanning Probe MicroscopeAtomic Force MicroScope(AFM)Scanning Tunneling MicroScope (STM ... 현미경(원자현미경) 탐침 : 텅스텐이나 백금 전해연마 도전성 시료 의 사용 (부도체 시료 사용불가) 탐침과 시료거리(nm이하) 터널링효과(바늘로부터 터널전류 생성) 바늘과 시료 ... 의 미묘한 거리에 따라 전류변화 기록Fig. 주사형터널현미경의 구조Atomic Force (AFM)시료에 도전성이 없을경우 사용 미세한 탐침(캔틸레버)과 시료의 상작용(van der
    리포트 | 28페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.12.03
  • [재료공학]전자현미경
    Probe Microscope)은 미세한 탐침(Probe)를 시료표면에 주사 (Scanning)하여 시료표면의 미세한 구조를 관찰할 수 있는 장비이다. SPM은 시료와 탐침간 ... , 신기능소자의 개발에 불가결한 장치이다.④ 그 외 여러 가지 전자현미경(SPM, XPS, AES)1. SPM(Scanning Probe Microscope)-SPM(Scanning ... 에 흐르는 전류 (Tunnel 전류)를 검출하여 표면 구조를 관찰한다. SPM의 발명 후에 시료, 탐침간에 움직이는 원자간력을 검출하여 표면형상을 관찰하는 원자간력 현미경이 발명
    리포트 | 29페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.03.14
  • [공대]전자현미경의 역사와 구성원리
    Electron Microscopy)3.2 Scanning Probe Microscopy (SPM) 주사탐침현미경STM (Scanning Tunnelling Microscopy ... Microscopy)SEM (Scanning Electron Microscopy)3.2 Scanning Probe Microscopy (SPM) 주사탐침현미경STM (Scanning ... Heinrich Rohrer, STM 발명proximal probe (근접 탐침)을 시료 가까이에 근접시킬 때 나타나는 특이한 현상을 이용하여 샘플을 이미징 함.이용하는 현상에 따라 STM
    리포트 | 14페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.03.20
  • STM
    (Probe)과의 거리가 매우 근접 되었을 때 시료와 탐침사이에 흐르는 턴넬(tunnel)전류를 이용하여 시료표면의 궤적을 주사하여 형상화 하는 기능이다. 여기서 주사탐침이라는 말에 대한 ... 에, 증폭 과정을 거치며, 이 때 발생하는 전류의 noise(주로 Johnson이 때 증폭AFM장치와 STM장치의 원리와 사용하는장치는 탐침(probe)의 tip을 제외하면 서로 같 ... 라는 기계이다. 이 둘을 통칭하여 SPM(Scanning Probe Microscope)라고 부른다. 이들 기자재를 이용하면 물질 표면에 있는 원자들의 모양을 볼 수 있는데, 그
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.10.18
  • [나노공학, 생명공학]SEM과 AFM의 비교 및 AFM 활용방안
    을 가하면 신축하는 전자소자가 x,y,z의 3방향으로 연결되어 있다. 그 소자에 전압을 걸면 탐침이 시료에 다가가거나(z축), x 또는 y축으로 움직인다. 이 원리로 probe ... 탐침을 사용해 원자를 하나씩 조작할 수도 있다. 이것은 우연히 발견되었지만 probe에 전압을 가해 원자를 탐침에 달라붙게 하거나 원자사이에 probe를 넣어 원자간의 연결을 절단 ... )의 배율은 최고 수십 만 배에 이른다.② AFM은 SPM의 일종으로서 원자 단위의 probe를 시료에 직접 접촉시키거나 근접시켜 표면을 왕복하며 쓸 듯이 sanning하여 표면 형상
    리포트 | 2페이지 | 1,000원 | 등록일 2005.12.22
  • si wafer의 wet엣칭의 실험과정과 anisotropic결과 도출의 이유
    하는 것을 관찰할 수 있었다.※ 30min etching 경사도 측정① 상승구간 측정값 : 47.6°② 하강 구간 측정값 : 66.1°* Cantilever(Probe)- AFM의 끝 ... 부분에 달린 Cantilever의 끝부분에 달린 탐침을 이용해서 웨이퍼와 탐침 사이의 접촉 힘을 이용하여 힘의 변화를 기록함으로써 3차원 이미지를 얻는다.③ etch 깊이와 폭 처음
    리포트 | 21페이지 | 3,500원 | 등록일 2009.11.12
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2025년 08월 08일 금요일
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