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"반도체테스트" 검색결과 21-40 / 2,844건

전자·반도체용 스프레이 분사형 세정제에 대한 청정도 평가 (Cleanliness Test by Spray-Type Cleaning Agent for Electronic and Semiconductor Equipment)

한국화학공학회 허효정, 노경호

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.06 | 수정일 2025.05.17

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금속-산화막 반도체 전계효과 트랜지스터의 우주방사선에 의한 총이온화선량 시험을 위한 테스트 베드 (Test-bed of Total Ionizing Dose (TID) Test by Cosmic Rays for Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor (MOSFET))

한국항공우주학회 신구환, 유광선, 강경인, 김형명, 정성인

논문 | 8페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.27 | 수정일 2025.05.14

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반도체 패키지 검사 공정의 데이터 변화 감지를 통한 불량 예측 모델의 갱신 (Updating Predictive Model by Concept Drift Detection in Semiconductor Package Test)

대한산업공학회 황호선, 백준걸

논문 | 9페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.07 | 수정일 2025.05.17

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열전소자를 이용한 반도체 검사용 자동 온도제어 모듈 개발 (Development of Automatic Temperature Control Module for Semiconductor Test Process Using Thermoelectric Element)

한국생산제조학회 손덕수, 동선희, 이우영

논문 | 6페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.06 | 수정일 2025.05.17

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반도체 칩 테스트용 챔버 형상에 따른 유동 균일성에 대한 수치적 연구 (A Numerical Study on the Flow Uniformity according to Chamber Shapes Used for Test of the Semi-Conductor Chip)

한국수소및신에너지학회 이대규, 마상범, 김성, 김정열, 강채동, 김진혁

논문 | 9페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.07 | 수정일 2025.05.17

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칩 간 공간적 유사성과 검사항목의 상관관계를 고려한 반도체 웨이퍼 테스트 데이터의 결측치 대체 방법 개발 (Development of a Missing Value Imputation Method for Semiconductor Wafer Test Data Considering Spatial Similarity among Chips and Correlation between Test Items)

대한산업공학회 김주영, 배영목, 최승현, 김광재

논문 | 8페이지 | 무료 | 등록일 2025.03.17 | 수정일 2025.03.28

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고속철도차량용 반도체 변압기 시험설비 구축 (Construction of Test Facilities for Solid-State Transformer Using High-Speed Railway Vehicles)

한국조명.전기설비학회 송승호

논문 | 5페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.06 | 수정일 2025.05.17

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IC 반도체 테스트 소켓용 전도성 Fe-Cu-X계 합금 제조에 관한 연구 (Study on the Fabrication of Electric Conductivity Fe-Cu-X System Alloy for IC Semiconductor Test Socket)

한국자기학회 김인호, 전병서, 이태행, 송창빈

논문 | 6페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.07 | 수정일 2025.05.17

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K-S검정(Kolmogorov-Smirnov Test)을 응용한 반도체 제조 시스템에서의 불량 원인 분석 방법론 (Root Cause Analysis Methods in Semiconductor Manufacturing System Using Modified K-S(Kolmogorov-Smirnov) Test)

대한산업공학회 옥명훈, 백준걸

논문 | 9페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.07 | 수정일 2025.05.17

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전력반도체 냉각용 히트파이프의 성능안정성 파악을 위한 성능시험 (Performance Test for the Performance Reliability of the Heat Pipe for Cooling Power Semiconductors)

전력전자학회 강환국

논문 | 10페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.07 | 수정일 2025.05.17

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자동 이송장치를 갖춘 반도체 검사용 비파괴 검사장비 개발 (A Development of Nondestructive Testing System with a Auto-loading unit for Semiconductor Inspection)

한국정보기술학회 이순흠, 최관순

논문 | 6페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.06 | 수정일 2025.05.17

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점하중시험법에 의한 반도체 기판용 실리콘 웨이퍼의 파괴강도 평가 (Evaluation of Fracture Strength of Silicon Wafer for Semiconductor Substrate by Point Load Test Method)

한국신뢰성학회 이승미, 변재원

논문 | 6페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.07 | 수정일 2025.05.17

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반도체와 전자 부품에 적용되는 실록산 고분자 코팅물질의 흐름성 및 자기 퍼짐성측정 시험 장치 연구 (Test tool for flow and self-leveling characters of coating materials of siloxane polymer used to semiconductor and electronic parts)

한국분석과학회 김철현, 조현모, 이명의

논문 | 6페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.07 | 수정일 2025.05.17

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반도체 산업의 SEMI S6에 따른 실험결과 및 누출률을 기준으로 한 증기 상 물질의 2차 누출 시 폭발위험장소에 관한 연구 (A Study on the Explosion Hazardous Area in the Secondary Leakage of Vapor Phase Materials Based on the Test Results and the Leak Rate According to SEMI S6 in the Semiconductor Industry)

한국가스학회 김상령, 임근영, 양원백, 임종국

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.25 | 수정일 2025.05.14

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반도체 테스트장비 Probe Card

기계융합제조설계 반도체 TEST 핵심장비 MEMS_Probe Card01 02 03 반도체 TEST 공정 EDS (Electrical Die Sorting ) MEMS_Probe ... card 목차반도체 전 · 후 공정 HANYANG UNIVERSITY 1. Semiconductor TESTEDS 공정 ( Electrical Die Sorting ... . Probe Card 기술발전에 따라 Wafer size ↑ , IC chip size ↓ 반도체 패드간 거리 좁아지면서 피치감소 고밀도의 Probe Card 기술필요 MEMS 공정

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 9페이지 | 2,000원 | 등록일 2018.12.02

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반도체 신뢰성 테스트

Reliability TestPurpose of Reliability 신뢰성 Test 의 목적 . 반도체의 정해진 기간 동안 의도한 기능을 만족하는지 미리 확인 . 신뢰도가 나쁜 ... ) _ 총 3 회 TestShot-term Reliability Test Precon Test 불량의 원인 반도체가 흡수한 수분 ( 액체 - 기체 : 부피 팽창 1974 배 ... Reliability Test Long-term Reliability Test 환경 테스트 열 충격 시험 (TC) Temperature Cycling Test 고온 보관 시험 (HTS) High

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 13페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.05.30

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반도체 Package & Test

Probe Test Final Test1. PACKAGE Package Die 형태의 반도체 칩은 완제품으로 사용하기 힘들기 때문에 , 외부의 습기 , 충격 , 불순물에 대해 보호 ... PACKAGE / TEST 2012. 09. 24 Novel TechAgenda Package Package? Package 제조 과정 . Package Type Test ... ※Lead Frame Molding package packaging chip 내부 Packaging Flow1. PACKAGE Package Type2. Test Test

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2013.01.17 | 수정일 2017.01.06

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[자기소개서]루셈(반도체TEST개발 엔지니어)

처럼 계획표를 작성하는 습관을 들여 시간 관리를 철저히 하는 저만의 강점으로 만들기 위해 노력 중입니다.3. 관심분야"반도체 전문 엔지니어가 되기 위한 과정"저는 의료공학을 주 전공 ... 으로 하면서 미세한 노이즈에도 민간한 반응을 보이는 의료기기 관련 프로젝트를 통해 뛰어난 분석력과 미세한 노이즈도 찾아낼 수 있는 섬세함을 갖췄으며 전자공학을 복수 전공하며 반도체 ... 에너지를 구하는 방법을 배움으로서 전자기 응용에 대한 학문적 기초를 다지고 물리전자 수업을 들으며 반도체 소자의 물리 및 전기적 특성을 이해하기 위하여 결정구조 및 현대 물리와 기초

Non-Ai HUMAN
| 자기소개서 | 5페이지 | 3,000원 | 등록일 2011.11.16

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실리콘웍스 [R&D] 반도체 회로설계 및 TEST/FA 분야 신입/경력사원 모집 자기소개서

실리콘웍스 [R&D] 반도체 회로설계 및 TEST/FA 분야 신입/경력사원 모집 자기소개서(자소서 항목)① 지원동기 및 향후 계획과 포부에 대하여 (300자 이상 500자 이내 ... 에 관심을 가지게 되었으며, 관심을 밝히는 방법이 필요합니다.본격적인 반도체 및 회로전자에 대한 공부는 고등학교 2학년이 담임선생님과의 대회준비를 위한 연구에서 시작 되었으며, 대 ... R&D투자야 말로 우리나라 반도체과학을 살릴 수 있는 회사라고 판단됐습니다.② 본인이 이룬 가장 큰 성취경험과 실패경험에 대하여 (300자 이상 500자 이내 작성)작성 팁

Non-Ai HUMAN
| 자기소개서 | 4페이지 | 3,000원 | 등록일 2016.07.28

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반도체 소자분석기를 이용한 BJT의 등가회로 변수추출(STA: Semiconductor Test and Analyzer - 반도체소자분석기)

실험 4. 반도체 소자분석기를 이용한 BJT의 등가회로 변수추출(STA: Semiconductor Test and Analyzer - 반도체소자분석기)1. 실험 목표:BJT ... 의 전기적 DC Parameter들을 STA (Semiconductor Test and Analyzer - 반도체소자분석기)를 이용하여 측정하고 이를 바탕으로 등가회로 변수를 추출

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 34페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.12.29

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