A+ 받은 저차원 물질 그래핀, h-BN의 기계적 박리 및 두께 별 라만 스펙트럼 분석 신소재 결과 보고서

소개

서울 상위권 대학의 A+ 받은 신소재 공정 실험 보고서입니다.

목차

1. 실험 결과 및 고찰
1) 실험 결과
2) 고찰 및 논의
(1) 광학현미경을 통해 기계적 박리를 한 시료 관찰
(2) AFM을 통한 두께 측정
(3) 라만 분광분석 장치를 통한 두께 별 라만 스펙트럼 분석

2. 결론

3. 기타

참고문헌

본문내용

광학현미경과 마이크로 분광장치를 통해서 테이프로 기계적 박리를 시킨 시료의 모양과 색을 확인할 수 있다. 5배, 10배, 20배, 50배, 100배로 확대하며 시료를 관찰할 수 있었고 이를 이용해 AFM 분석과 라만 shift 분석을 할 수 있는 적절한 flake를 찾아보았다. 산화 실리콘 기판 위 그래핀 시편을 광학현미경으로 관찰할 수 있는 이유는 SiO2 막에서 다중반사에 의한 빛의 간섭효과 때문이다. 이때 시료는 두께별로 색이 다른데 시료가 두꺼우면 붉은색, 얇으면 푸른색으로 나타나며 까만 것은 박리가 잘 안됐음을 의미한다. 그래핀이 너무 두꺼우면 AFM 측정이 어렵고 라만 측정 시 peak가 잘 나타나지 않기 때문에 얇은 시료 즉, 푸른색을 띄는 시료를 찾아야 한다. 위 실험에서 분석한 시료는 박리가 비교적 잘 된 얇은 시료였고 따라서 전체적으로 푸른색을 띄었으며 크기는 약 20 μm였다. 별첨에 첨부한 시료를 보았을 때 위에 짙은 파란 부분은 비교적 두께가 두꺼운 부분이며 아래의 옅은 파란색을 띄는 부분은 얇은 두께를 갖는 부분이다.

참고자료

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