X선 회절을 통한 이차전지 양극재 결정 구조 분석
2025.12.11
1. X선 회절(XRD)
X-ray diffraction은 결정 구조 분석의 중요한 도구로, 결정성 물질에 X선을 조사하여 회절된 빛의 패턴과 강도를 분석함으로써 물질의 세부 구조를 파악한다. 원자 배열, 위치, 간격, 각도를 특성화할 수 있으며, 전자밀도, 화학결합, 무질서 부분까지 측정 가능하다. XRD 장비는 X선 발생기, 각도 측정 장치, 검출기, 제어 연산 장치로 구성되며, 비파괴적 분석이 가능하다는 장점이 있다.
2. Bragg 방정식
Bragg 방정식(nλ=2dsinθ)은 결정 구조에서 회절 패턴을 설명하는 기본 방정식...
2025.12.11