유아 지능검사 종류 3가지(비네검사, 웩슬러지능검사, 집단지능검사)

목차

1. Binet 검사
2. Wechsler 검사
3. 집단지능검사

본문내용

인간의 지능측정은 지능검사에 의한다. 지능을 측정하게 된 것은 역사적으로 두 가지 이유를 가지고 있다. 첫째는 개인차를 연구하기 위해서였고, 둘째는 저능아 ․ 정신지체아지능을 측정 진단하기 위해서였다.

1. Binet검사

이 검사는 1905년 프랑스의 심리학자 Binet와 의사 Simon에 의해서 최초로 만들어진 실험적 지능검사이다.
3세-13세 아동을 대상으로 학습부진아를 선별하기 위하여 만든 문항들이 다른 학생들의 지적 능력을 비판하는 데에도 유용하다는 것을 알게 되었다. 검사항목은 30항목으로 구성되어 있고 난이도에 따라 문항들이 배열되어 있다. 이 검사를 Binet-Simon 척도(Binet-Simon scale)라고 한다.
이 검사는 본격적인 지능검사는 아니었다. 1908년 Goddard에 의하여 영역되어 미국에 소개되었고, 1916년에 Stanford 대학교의 Terman 교수에 의해 다시 개정된 것이 Stanford-Binet intelligence scale이다. 이것은 미국 아동들의 광범위한 표집을 근거로 하여 만들어졌다. 그 후에도 개정되어 좋은 지능검사로 평가받았고, 아직 여러 나라에서 널리 사용되고 있는 개인용 지능검사라고 할 수 있다.
이 지능검사에서 Terman은 지능지수(intelligence quotient : IQ) 개념을 처음으로 사용하여 지능 정도를 표시하는 방법을 소개하였다.
즉, 정신연령(mental age : MA)와 생활연령(chronological age : CA)의 개념을 검출하여 CA와 MA를 대비시켜 그 비율을 지능지수라고 명명하고 있다. 따라서 IQ=) MA/CA x 100이라는 공식을 고안하여 계산할 수 있도록 하였다. 100점을 평균점으로 해서 100보다 높으면 보통이상의 지능이라고 하고, 그 이하이면 보통 이하의 지능으로 설명된다.

참고 자료

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