지각과정에 대한 이론적 접근(상향적 시각정보처리모형, 하향적 정보처리모형, 시각계산모형)

목차

I. 상향적 시각 정보 처리 모형
II. 하향적 정보 처리 모형
III. 마(David Marr)의 시각 계산 모형

본문내용

시각 정보 처리 과정에서 지각의 하위 체계인 단순 물리자극을 조합해 지각의 대상인 물체의 전체적인 형태를 파악하는 처리 방식을 상향적(bottom-u굴 처리라 일컫는다. 반면에 기억 또는 학습을 통해 습득한 과거의 지식이 지각의 하위 체계 처리 과정에 영향을 미치는 경우를 하향적(top-down) 처리라 일컫는다. 이 두 과정은 지각 과정의 여러 모형을 이해하는 데 매우 중요한 역할을 한다.

I. 상향적 시각 정보 처리 모형
시각 정보 처리 과정에서 나타나는 상향적 정보 처리 과정을 이론화한 예로 세부특징모형(feature-matching model)이 있다. 셀프리지(Selfridge, 1959)가 제안한 이 모형에 따르면, 시각 이미지에 대한 지각은 그 이미지를 분석하고 조직화하는 과정에서 발견되는 세부 특징과 기억 속에 저장된 이미지의 세부특징이 서로 얼마나 유사한가를 토대로 이루어진다고 가정한다.

참고 자료

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