2011.3.15 부하효과

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전자회로실험, opamp, 예비보고서, 전자회로

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실험 2. 부하 효과 (loading effect)
1.목적
회로의 전압 또는 전류가 측정되기 위해서는 회로로부터 측정기기로 에너지의 흐름이 일어나야 한다.
따라서 어떠한 측정도 회로의 동작을 조금이라도 교란하게 된다.
측정시 유의할 사항
이러한 교란 효과가 측정값에 미치는 영향이 무시할 만한 오차 범위 내에 들어가도록 해야 한다.
전압을 측정하는 경우에는 측정기기의 입력 임피던스가 측정기기가 연결되는 노드를 들여다보는 임피던스에 비하여 충분히 커야 피측정회로가 측정에 의하여 교란을 크게 받지 않는다.
본 실험에서는 부하 효과의 여러 가지 측면에 대하여 살펴본다.
2.이론적 배경
전압계의 내부 저항에 의한 효과
원래의 전압 :
측정시 전압
이면 가 된다.
오실로스코프 프로브의 내부 저항
X1 프로브 : 1 MΩ
X10 프로브 : 10 MΩ
아날로그 전압계
측정 범위에 따라 내부 저항이 다르다.
용량성 부하 효과
프로브에 존재하는 커패시터에 의한 효과
주파수가 증가하면 용량성 부하 효과가 커진다.
함수발생기의 출력 임피던스
일반적인 함수발생기의 출력 임피던스 : 50 Ω
신호를 받는 회로의 입력 임피던스가 50 Ω보다 충분히 크지 않을 때에는 내부 임피던스에 의한 전압 강하를 고려해야 한다.
전류 측정시의 부하 효과
전류원 프로브를 사용한다
대부분의 경우 회로에 아주 작은 저항, 보통 1 Ω 저항을 삽입하여 저항 양단의 전압을 측정하여 전류를 간접적으로 측정한다.
저항이 삽입되는 점에서 들여다본 회로의 저항이 1 Ω보다 훨씬 커야 삽..
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참고 자료

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