XRD-미지시료 분석결과 SIC분석결과
- 최초 등록일
- 2008.12.19
- 최종 저작일
- 2008.10
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소개글
X-ray Diffraction 을 이용하여 미지시료 두가지 Si+C, SIC 화합물을
분석한 결과 레포트입니다. 재료공학과 여러분은 매우 유용하실것이고
XRD에 관련된 실무적인 내용및 자세한 내용에 대해서도 어느정도 첨부된
레포트입니다.
설계용으로도 참 좋구요 A+받은 자료입니다.
목차
1. 설계주제
2. 설계목표
3. 설계 이론 배경
4. 실험방법
5. 실험의 결과
6. 실험에 대한 결론
본문내용
1. 설계 주제
➀ X-선 회절기를 이용한 미세구조 제어
➁ 결정재료의 변태, 소성가공 및 열처리에 의해 일어나는 여러 가지 현상들의 대한 X-선 회절기의 응용
2. 설계 목표
➀ X-선 회절기를 이용하여 Sample. 제작방법에 대하여 알아낸다.
➁ 미지의 Sample.에 대해 분석한다.
3. 이론적 배경
X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD)는 시료의 상태에 따라서 분말법용과 단결정용 으로 분류할 수 있다. 분말법을 사용하는 전자의 경우는 Debye-Scherrer Camera와 단결정용으로 사용되는 Weissenberg Camera, 그리고 단결정 자동 X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD) 으로 나뉜다.
이번 설계에 사용한 Diffractometer는 크게 나누어서 X선(X-Rays)을 발생 시키는 X선 발생장치(X-Ray Generator, XG), 각도를 측정하는 고니오메터(Goniometer), X선 강도(X-Rays Intensity)를 측정하는 계수기록장치(Electronic Circuit Panel, ECP), 이러한 것들을 제어하고 연산을 하는 제어연산장치(Control/Data Processing Unit, Computer) 의 4 부분으로 되어있다. 각각의 장치를 간단히 설명하면 다음과 같다. X선 발생장치(X-Ray Generator, XG)는 X선 튜브, 고압전원, 고압제어회로, 냉각장치, 각종 보호회로 등으로 구성되어있다. 각도분산형 X-선 회절계에서 사용하는 고니오메터는 회절 X-선을 측정하기 위한 측각기이다. 고니오메터는 각종 스리트 및 검출기로 되어있는 광학계, 톱니바퀴 등으로 만들어지는 기계부품 및 구동부품으로 되어있다. X-선은 인간의 오감으로 감지할 수 없기 때문에, 물질과의 상호작용을 이용해서 감지 가능한 형태로 변환한다. X-선 회절계로 CuKα선을 사용해 측정하는 경우에 가장 많이 사용되고 있는 검출기는 비례 계수관이다. MoKα선 등은 단파장에서 효율이 좋은 신치레이션 계수관이 많이 사용된다. 가이거 계수관은 계수회로가 간단하기 때문에, 모니터로 사용되어지고 있다. 최근의 장치에서는 반도체 검출기도 사용되고 있다.
참고 자료
없음