XRD 원리와 응용예
- 최초 등록일
- 2009.12.18
- 최종 저작일
- 2009.12
- 3페이지/ 한컴오피스
- 가격 1,000원
소개글
A+ 받은 자료입니다.
목차
X선(X-Rays)의 발생(Generation)
X선 회절현상 이란?
X선 회절 분석기
실험 방법
* 장치 취급상의 주의점
Sample 결과(표와 그래프 포함)
미지의 sample 에 대한 분석
본문내용
X선 회절장치는 시료의 상태에 따라서 분말법용과 단결정용으로 분류할 수 있다. X선 회절장치는 X선의 검출 방법에 따라서, Film을 사용하는 사진법에 의한 것과 Counter(검출기)를 이용하는 Counter법에 의한 것으로 분류할 수 있다. Counter에 의해 자동기록방식을 이용한 X선 회절계를 디프랙토메타(Diffractometer)라고 하며, 주로 분말법용으로 이용한다.
미지의 sample 에 대한 분석
일단 Sample의 XRD 결과를 보게 되면 Sample의 경우 재료는 CSi (Silicon Carbide), Lattice : Face-centered cubic, a = 4.35810, Z = 4 Mol, weight = 40.10 g/mol 이라는 사실을 알 수 있다. 즉 SiC의 결합형태가 아닌 Si와 C가 함께 있는 형태로서 FCC 구조를 이룬 단순 화합물의 형태임을 알 수 있다, 위의 실험결과에서 JCPDS card 검색결과를 보게 되면 (111), (200), (220), (311), (222)면에서 회절이 일어났음을 알 수 있다. 또한 상대세기 (I/I)가 (111)에서 가장 강하게 나왔으며, (511)면까지 회절이 일어남을 확인할 수 있으나 실험에 있어 설정을 20°~80°까지 하였기 때문에 위의 언급한 5개면에서 상대강도가 비교적 강한 회절이 발생하였음을 알 수 있다.
참고 자료
없음