공통 이미터 트랜지스터 증폭기 결과보고서
- 최초 등록일
- 2021.05.25
- 최종 저작일
- 2020.06
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목차
Ⅰ. 실험 결과
Ⅱ. 결과 분석 및 고찰
Ⅲ. 참고 문헌
본문내용
Ⅰ. 실험 결과
1. 공통 이미터 직류 바이어스
a. 그림 17-1 회로의 저항값들을 측정하고 기록하라. 이번 실험에서는 실험 자재 여건상15uF 대신 10uF를 사용하였다.
= 33.254KΩ
= 9.9043KΩ
= 2.9713KΩ
= 0.9866KΩ
b. 그림 17-1 회로의 직류 바이어스 값을 계산하라. 그 결과를 아래에 기록하라.
<중 략>
Ⅱ. 결과분석 및 고찰
1. 공통 이미터 직류 바이어스 및 교류 전압 이득
이번 실험에 사용된 회로는 지난 실험 11의 마지막 바이어스 구조인 전압분배기 바이어스 구조를 사용한 공통 이미터 회로이다. 전압분배기 바이어스는 지난 실험에서 알아본 바와 같이 바이어스의 안정성이 높은 회로이다. 이 실험은 직류 바이어스를 통해 교류 동적저항 의 값을 구하고 이를 이용해서 교류전압이득 를 구해보고 입력, 출력의 전압을 직접 측정해 의 값을 구해보는 실험이다. 즉, 공통 이미터 트랜지스터 증폭기의 전압이득이 어느 정도의 크기를 가지는지 알아보는 실험이다.
(측정값) = 2.2399V (이론값) = 2.201V
(측정값) = 1.5617V (이론값) = 1.525V
(측정값) = 5.3183V (이론값) = 5.315V
(측정값으로부터계산) = 1.592mA (이론값) = 1.542mA
PSpice에서 확인한 직류 바이어스의 결과와 측정값은 3%이내의 오차로 거의 일치하는 값이므로 바이어스가 제대로 되어있음을 다시 한 번 확인할 수 있다. 실험 11에서 구했던 안정도를 구해보면 ║ = 0.033으로 상당히 안정적임을 알 수 있다. 즉, β의 변화에 대한 의 감도가 적어져 교류 동적저항 의 값이 변동 없이 비교적 일정한 값을 가지게 된다. 실험결과에서 의 이론값과 실험값에는 0.8%로 매우 적은 오차가 발생했다.
참고 자료
Robert L. Boylestad 외 2저,『전자회로실험 제 10판』,ITC(2011)