TEM과 SEM 으로 본 시편의 밝은영역과 어두운영역에 대한 고찰

목차

1. TEM의 bright-field image와 dark-field image는 어떻게 관찰하는 것인지를 설명하고 이의 차이점을 잘 보여주는 TEM image의 예(example)의 논문을 google을 통해서 찾아서(as many as possible) 설명하라. 또한 SAD의 zone axis를 찾으면 일반적으로 결정구조를 예상할 수 있는데 왜 그런지를 설명하라.
2. SEM을 이용하면 금속재료의 표면 image를 관찰할 수 있으며 시편재료를 구성하고 있는 성분을 분석할 수 있다. 어떠한 원리에 의해서 SEM으로 image를 볼 수 있는가? BSE 모드로 관찰하면 textbook에서 Nb5Si3, Nb3Si 및 Nb의 상을 구별할 수 있다고 했는데 textbook에 있는 것이 아닌 다른 예를 보여주는 논문을 google을 통해서 찾아서(as many as possible) 설명하라. 또한 어떠한 원리에 의해서 시편을 구성하고 있는 성분의 분석이 가능한가? 이때 원소분석이 불가능한 원소는 무엇이고 왜 그런지를 설명하라.

본문내용

Electron beam이 시편에 충돌하면 일부 전자들은 시편과의 상호 간섭에 의하여 산란되어 광축(optic axis)으로부터 벗어나게 된다. 이러한 산란된 전자들을 10㎛∼100㎛ 크기의 aperture에 의해서 차단되고 광축에 가까운 투과된 Electron beam만으로 image를 형성할 때 Bright-field image를 얻는다. 명시야상의 Contrast는 시편에서 산란된 량에 의하여 결정되고 따라서 많은 전자들이 산란될수록 image는 어둡게 된다. Dark-field image는 회절패턴이 형성되는 높이에 위치한 objective aperture를 이용하여 투과된 Electron beam을 차단하고 diffraction 또는 scatterd된 Electron beam을 이용하여 image를 형성하는 방법으로서 반드시 그런 것은 아니지만 대개 image가 어둡게 나타난다. Dark-field image는 Bright-field image에서는 상세하게 보기 어려운 구조적 특징들의 Contrast가 훨씬 선명하게 나타난다.

참고 자료

Texture evolution and operative mechanisms during large-strain deformation of nanocrystalline nickel - N. P. Gurao, Satyam Suwas
Chemical wear of carbon-based refractory materials in a silicomanganese furnace tap-hole - J.D. Steenkamp