랩뷰를 이용한 비파괴 검사 시스템 제작

소개글

랩뷰를 이용한 비파괴 검사 시스템 제작

목차

國文抄錄 iii

제 1 장 서 론 1

제 2 장 본 론 2
2.1 비파괴 검사 시스템의 구성 2
2.2 스캐너 구동 개요 3
2.2.1 Flow Chart 3
2.2.2 Labview Block Diagram 4
2.3 데이터 수집 5
2.3.1 구동부와 센싱부 통신 5
2.3.2 전압 및 위상값 수집 7
2.3.3 배열반전과 결함 출력 8
2.4 시뮬레이션 검사 결과 9

제 3 장 결 론 10

參考文獻 11
그림 목차

[그림 1] 시스템 구성도 2
[그림 2] Flow Chart 3
[그림 3] Block Diagram 4
[그림 4] 구동부와 센싱부 동선 5
[그림 5] 구동부와 센싱부 Block Diagram 6
[그림 6] 수집부 Block Diagram 7
[그림 7] 배열데이터 반전 및 결함출력 8
[그림 8] Labview Front Panel 9

본문내용

제 1 장 서 론
도체 표면에 교류전류가 흐르는 코일을 근접하면 도체에 변화하는 자계가 형성된다. 이 시변 자계에 의해 와전류가 유도되는데 만약 도체에 결함이 존재 한다면 와전류의 크기가 변하고 이를 이용하여 도체의 결함을 측정하는 것을 와전류탐상법이라 한다.
와전류 탐상법을 구현하는 데에는 결함을 실제로 측정하는 센싱부와 구동부, 그리고 측정된 신호는 증폭과 노이즈 필터링을 거쳐 측정 되도록 하였다. 특히 시험편 위를 움직이는 센서의 속도, 수집타이밍과 위치를 동기화하여 데이터를 구축 하는 것이 중요하다. 따라서 각종 하드웨어를 제어함과 동시에 데이터를 수집, 처리하는 것이 관건이다.
본 연구는 다양한 DAQ(Data Acquisition)장비를 보유함과 동시에 통신을 가능케 한, 산업체에 있어 범용성이 높은 NI(National Instruments)사의 그래픽 프로그래밍 언어인 Labview를 통하여 구현했다. 실제적으로 제어신호와 데이터신호를 통신하는 DAQ 하드웨어는 NI사의 PCMCIA방식 DAQ-6024E보드와 12bit 분해능을 가진 CB-68LP Device Terminal을 선정하였다.
DAQ의 Device Terminal의 아날로그채널을 통해 신호를 전달하는데 이는 AVR을 통해 구동부와 센싱부를 통신한다. 마찬가지로 센싱부에서 발생한 신호는 시그널 컨디셔닝 모듈인 Lock in Amp를 거쳐 Device Terminal로 연결이 된다. 추출되는 아날로그 신호는 디지털 신호로 바뀌어 Labview를 통하여 수집된다. 마지막으로 Labview에 수집된 데이터는 탐상 진행과 동시에 관측할 수 있으며 최종 결과는 3D 그래프로 표현된다.
이처럼 Labview를 통한 비파괴 검사 시스템 구축은 탐상장비의 정밀한 제어와 센싱과 데이터 처리로 인하여 보다 정확한 비파괴 탐상이 될 수 있으리라 예상된다.

제 2 장 본 론
2.1 비파괴 검사 시스템의 구성
비파괴 검사 시스템은 실제적 탐상이 이루어지는 스캐너, 시그널 컨디셔닝 시스템으로 데이터를 추출하는 것을 기본으로 한다. 또한 이와 같은 과정에 있어서의 통신과 데이터는 DAQ를 통해 Labview로 연결된다.

참고 자료

[1] 곽두영, Ohm사, 컴퓨터 기반의 제어와 계측 Labview, 2006
[2] 허훈, 정익사, LabVIEW와 시스템제어에의 응용, 2007
[3] 이병옥, Ohm사, LabVIEW를 이용한 기초공학실험, 2004
[4] 강필순, 인피니티북스, 내 손으로 완성하는 LABVIEW, 2008