AAS & ICP 이론 및 원리

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목차

1. 원자흡광광법 (Atomic Absorption Spectroscopy)
2. 유도결합플라즈마 발광분석법 (Inductively Coluped Plasma Atomic Emission Spectroscopy)
3. 유도결합플라즈마 질량분석법 (Inductively Coluped Plasma Mass Spectroscopy)
4. AAS & ICP-AES & ICP-MS

본문내용

유도결합플라즈마 질량분석법
(Inductively Coluped Plasma Mass Spectroscopy)
- 간섭
분광학적 간섭
Plasma 내 이온 중 분석원소와 같은 m/z를 가질 때 일어나는 방해
Injector gas flow rate나 sampling depth 또는 RF power 등을 조절하여 oxide나 doubly charged ion이 적게 생성되도록 함

매트릭스 간섭
TDS 농도가 1000 mg/L 이상이 되면 여러가지 방해 영향을 초래
-TDS가 많아지면 sampler cone에 염의 합착이 일어나 orifice를 막기 때문에 흡입되는 기체의 양이 변하고 정밀도가 떨어짐
분석성부을 미리 분리하여 매트릭스를 제거하거나, 분석 전 다른 방법에 의해 전체 성분의 농도를 조사하여 분석성분의 감도가 허용되는 범위까지 희석

참고 자료

없음