TEM, SEM, AFM

소개글

"TEM, SEM, AFM"에 대한 내용입니다.

목차

1. TEM(Transmission Electron Microscope)
1.1 TEM 원리
1.2 TEM 특징
1.3 TEM 용도

2. SEM(Scanning Electron Microscope)
2.1. SEM 원리
2.2. SEM 특징
2.3. SEM 용도

3. AFM(Atomic Force Microscope)
3.1. AFM 원리
3.2. AFM 특징
3.3. AFM 용도

본문내용

1. TEM(Transmission Electron Microscope)
1.1 TEM 원리
투과전자현미경은 광학현미경과 그 원리가 비슷하다. 전자현미경에서의 광원은 높은 진공 상태에서 고속으로 가속되는 전자선이다. 전자선이 표본을 투과하여 일련의 전기자기장 또는 정전기장을 거쳐 형광판이나 사진필름에 초점을 맞추어 투사된다. 이 전자의 파장은 가속전압에 따라 다르며 흔히 사용되는 전압(100KV)에서의 전자파장은 0.004nm이다. 광학렌즈 대신 사용되는 자기장은 불완전하며 개구수가 없다. 따라서 전자현미경의 이론적 분해능(해상력)은 약 0.001nm이나 생물학적 표본에서 사용되는 분해능은 약 0.2nm(side entry), 0.14nm(top entry)이다.

1.2 TEM 특징
확대율과 해상력이 뛰어나 광학현미경으로 관찰할 수 없는 세포 및 조직의 미세한 구조를 관찰할 수 있으며, 단백질과 같은 거대분자보다 더 작은 구조도 볼 수 있다. 그리고 전자회절형상을 이용하여 물질의 결정구조를 분석할 수가 있다.

참고 자료

없음