XRD와 SEM
- 최초 등록일
- 2014.11.29
- 최종 저작일
- 2014.04
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소개글
과목 성적 A+ 및 실험대표레포트 선정
목차
1. 실험주제
2. 실험이론
1) XRD (X-ray 회절분석법)
① 시험목적
② X선 회절의 원리
③ 시험방법
2) SEM (주사형 전자현미경)
① 시험목적
② SEM의 원리
③ 시험 방법
3. 참고문헌
본문내용
1. 실험주제 : XRD 및 SEM 이해
2. 실험이론 :
1) XRD (X-ray 회절분석법)
① 시험목적
X선을 결정에 부딪히게 하면 그중 일부는 회절을 일으키고 그 회절각과 강도는 물질구조상 고유한 것으로서 이 회절 X선을 이용하여 시료에 함유된 결정성 물질의 종류와 양에 관계되는 정보를 알 수 있다. 이와 같이 결정성 물질의 구조에 관한 정보를얻기 위한 분석방법이 X선 회절법이다.
② X선 회절의 원리
아래 그림과 같이 임의의 결정이고 원자가 간격 d를 가지고 평행한 격자면 A, B, C …로 배열되어 있을 때 이 결정에 파장 λ인 X선을 입사각 θ로 조사하면, X선은 원자에 의해 모든 방향으로 산란된다. 산란된 X선의 행로차 P 'RP"이 입사 X선 파장의 정수배로 된 X선은 간섭효과에 의해 강해진다. 이 현상을 회절현상이라 하고, 이렇게하여 발생된 X선을 회절 X선이라 부른다. 회절현상이 발생하는 경우 입사 X선의 파장λ 및 입사각 θ와 격자면 간격 d 사이에는 다음과 같은 관계가 성립된다.
참고 자료
한국시설안전공단(Korea Infrastructure Safety and Technology Corporation)
한국교육학술정보원(KERIS)