[무기분석실험] 6.나노사이즈의 SiO2 합성 및 분석-결과

목차

1. 실험날짜
2. 실험제목
3. 결과 및 분석
4. 토의 및 고찰
5. 참고문헌

본문내용

물질에 X-Ray을 쪼아주면 각각의 원소마다 고유의 XRD Pattern을 보인다.
SiO2의 XRD Pattern은 위의 그림과 같이 나타나는데 여기서 나타나는 피크점들을 기준으로 우리가 제조한 SiO2가 제대로 합성이 된 것인지 알 수 있다.
SiO2는 실험결과값으로는 약 25° 부근에서 이론값에서는 약 23° 부근에서 피크를 보인다. 전체적인 그래프 모양이 어느 정도 유사성을 가진 것으로 보아 SiO2가 합성이 된 것을 추측할 수 있다.
Bragg's Law를 이용하면 d값을 구할 수 있다.(n과 λ값을 주어지면 해당 평면의 반복구간거리를 알 수 있다.)
nλ = 2dSinθ
d = λ / 2Sinθ
4-2. 실험과정
이번 실험은 TEOS로부터 SiO₂를 합성하고 분석기기(XRD)를 이용하여 구조를 분석하는 실험이었다.
① EtOH(84.44g)에 H2O(4.44g)을 15분간 상온에서 교반한다.
(CH3CH2O)4Si + 4H2O → (OH)4Si + 4CH3CH2OH
② 교반이 끝난 혼합물에 NH4OH·H2O(5.84g)을 넣고 10분간 상온에서 교반한다.

참고 자료

http://iopscience.iop.org/1402-4896/85/5/055601/pdf/1402-4896_85_5_055601.pdf