X-Ray Diffraction 예비보고서
- 최초 등록일
- 2011.07.10
- 최종 저작일
- 2011.06
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소개글
X-Ray Diffraction 예비보고서
목차
1. 서론
2. XRD의 원리
3. Bragg`s law
4. XRD의 특징
5. XRD의 구조
6. 실험 방법
7. 참고 문헌
본문내용
Crystal growth &
X-Ray Diffraction (XRD)
○○○ 교수
□□□□ and ○○○ Laboratory, Department of ○○○, □□□ University
△△△
Department of ○○○, □□□ University
X선을 결정에 부딪히게 하면 그중 일부는 회절을 일으키고 그 회절각과 강도는 물질구조상 고유한 것으로서 이 회절 X선을 이용하여 시료에 함유된 결정성 물질의 종류와 양에 관계되는 정보를 알 수 있다. 이와 같이 결정성 물질의 구조에 관한 정보를 얻기 위한 분석방법이 X선 회절법이다.
서 론
1912년 막스 폰 라우에가 이 현상을 발견하여 X선이 사실은 파장이 짧은 전자기파라는 것을 밝혔다. 거꾸로 이 현상을 이용해 물질의 결정구조를 조사하는 것이 가능하다. 이러한 X선 회절의 결과를 해석해 결정 내부의 원자가 어떤 배열을 하고 있는가를 밝히는 방법을 `X선 결정구조해석` 또는 `X선 회절법`이라 한다. 이 외에 회절현상을 이용한 결정구조해석의 방법으로 전자회절법, 중성자회절법 등이 있다.
X선은 전파나 빛과 마찬가지로 전자기적인 파이며 물질에 충돌할 때 역시 회절이 생긴다. 원자가 어떤 규칙에 따라 배열한 집합체 즉, 물질에 X선을 입사시키면 각각의 원자로부터의 산란파가 서로 간섭 현상을 일으켜 특정한 방향으로만 X선회절이 진행한다. 이것이 X선회절 현상이다. X선회절의 강도와 진행 방향은 물질을 구성하는 원자의 종류와 배열 상태에 따라 달라진다. X선 회절(Xray diffraction, XRD)은 결정격자를 통과한 X선의 회절을 나타낸 영상이다.
참고 자료
[1] Wikipedia - X-Ray Diffraction
[2] XRD Manual, Nano and Electronic Physics, Kookmin University
[3] X-Ray Diffraction, Department of Electronics Computer Engineering, College of Information & Communications, Hanyang University