Extended Frequency-Directed Run-Length Code with Improved Difference Vector Scheme

소개글

연세대학교 전기전자과 졸업 연구를 진행하면서 작성한 논문이다. 영문으로 작성되었으며 data compresstion에 대한 내용이다. EFDR을 좀더 개선시킨 논문이며 이 논문을 통해 졸업 연구에서 좋은 성적을 얻을 수 있었다.

목차

Figure index
Table index
Abstract
1. Introduction
2. Background
2.A. Difference vector
2.B. FDR code
2.C. EFDR code
3. Improve difference vector scheme
3.A. IDEA
3.B. Practical application
3.C. Encode & Decoder Implementation
3.C.i. Encoder
3.C.ii. Decoder
4. Result & Discussion
5. Conclusion
Reference
국문요약

본문내용

ABSTRACT

Extended Frequency-Directed Run-Length Code with Improved Difference Vector Scheme


Today’s design paradigm demands small size, low power consumption and short time to market. This tendency increase SOC’s complexity. And this increasing complexity increase difficulty of testing. But life time of our products shorter than that in post day, so we must sell these products in a short time. This situation demands fast testing.
This research based on testing data compression that makes fast testing. Especially I concentrate data compression scheme that based on run-length. EFDR is one of well known scheme that based on run-length. EFDR consider both run of 0’s and 1’s. An object of this research is improving EFDR in compression ratio aspect. I have studied and observed the main factor that reduce compression ratio of EFDR for a long time. Finally I can make an improved new scheme based on this study and observation.
Main factor is transient that is obstacle of long run. So we can make a high compression ratio by removing these transients. I pre-encode test pattern by inserting added bit for remove these transients. Added bit can distinguish coded bits with un-coded bits. I can get higher data compression than EFDR coding by this pre-coding. This pre-coding makes additional hardware overhead, but overhead is really small because of pre-coding properties. I describe about this scheme in this research.

국 문 요 약

Extended Frequency-Directed Run-Length Code with Improved Difference Vector Scheme


오늘날의 설계 기술의 진보는 점점 더 복잡한 설계를 요구한다. 이러한 시기적 흐름에 따라 설계된 결과물에 대한 테스트는 점점 더 어려워지고 있다. 그럼에도 불구하고 빠르게 변화하는 시기적 흐름에 도태되지 않기 위해서는 빠른 테스트가 필수 불가결한 요소이다.
본 논문은 이러한 테스트를 위한 기술 중 하나인 데이터 압축 기술에 관련된 것으로 연속적인 데이터의 발생을 그 데이터의 발생 빈도수를 이용해 압축을 수행하는 기술에 대하여 다루고 있다. 특히나 EFDR이라는 0과 1의 연속적인 데이터에 대하여 압축을 수행하는 기술을 근간으로 데이터의 압축률과 실제 구현시의 하드웨어의 크기에 대하여 고찰한 후 이를 바탕으로 EFDR을 능가하는 성능을 가진 압축 기술을 고안하였다.
연속적인 데이터의 발생을 발생 빈도수를 가지고 압축을 하는 기술들은 그 연속적인 데이터가 불연속이게 만드는 변화에 의하여 그 압축 성능이 저하되게 된다. 이렇게 압축률을 저하시키는 데이터의 변화를 선 처리를 통해 최대한 줄여주며 이를 통해 EFDR을 뛰어넘는 압축 성능을 얻을 수 있었다. 물론 이런 선 처리 과정이 추가 됨에 따라 압축을 풀어주는 하드웨어의 크기가 어느 정도 증가하는 것은 당연한 일이다. 그러나 본 논문에서는 이 또한 줄이는 방식의 압축 방법을 고려했으며 이를 통해 거의 동일한 크기의 하드웨어를 가지고 EFDR을 능가하는 성능을 가진 압축 방법을 고안 할 수 있었다.

참고 자료

없음