광운대학교 전기공학실험 실험6. 논리조합회로의 설계 결과레포트 [참고용]

소개글

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목차

1. 실험 명
2. 실험 개요
3. 실험 결과
4. 고찰
5. 참고문헌

본문내용

본 실험을 통해 배타적 OR를 활용한 Simplification 회로가 올바르게 동작함을 확인하고, 회로를 효율적으로 설계하고 실험하며 해당 회로의 한계를 분석했다.
한계를 분석함에 앞서서, 실험6을 진행하며 초기 풀업저항을 100옴 단위로 설정하니 플라스틱 연소에 의한 냄새가 났고, 이론적으로 켜져야하는 LED 또한 점등되지 않았다. 이때, 풀업 저항을 47K옴으로 전환하고 실험을 진행하니 LED는 켜졌으나 타는 냄새가 지속되며 이는 회로의 단락을 의미한다. 이러한 현상을 방지하기 위해 초기 회로의 구성에 매우 유의하여야한다. 디바이스에 흐르는 전류값을 가정하여 전원전압과 비교한 후 적절한 풀업저항을 연결해야한다. (1.5K ~10K옴 단위)
더해서, 실험 회로 구성시 전원 입력 부분의 도선이 겹쳐지면 단락이 일어나며 위의 타는냄새와 같은 현상이 발생한다. 같은 극의 도선의 접촉은 무관하나, 다른 극의 도선끼리의 접촉이 잃어나지 않도록 회로구성에 유의하여야 한다.

참고 자료

디지털논리와 컴퓨터설계 제 5판: NAND, NOR 변환법 및 해당 변환의 이점 참고.
https://ko.insterne.com/%EC%96%B4%EB%96%A4-%EC%9B%90%EC%9D%B8%EC%9C%BC%EB%A1%9C-%EB%8B%A8%EB%9D%BD%EC%9D%B4-%EB%B0%9C%EC%83%9D%ED%95%A9%EB%8B%88%EA%B9%8C/ ko.insterne 자료: 단락 시 열의 발생의 원인과 위험성 참고.
전력전자학회지 = The journal of the Korean Institute of Power Electronics v.8 no.1 , 2003년, pp.37 - 40, 지준근: 풀업저항의 범위와, 데이터 저장 기기의 활용에 대해 참고.