X-ray Diffraction
- 최초 등록일
- 2021.01.18
- 최종 저작일
- 2015.05
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소개글
"X-ray Diffraction"에 대한 내용입니다.
목차
1. 실험제목
2. 실험일자
3. 실험목적
4. 실험원리
A. X-ray
B. X선의 산란과 회절
C. X-ray diffraction
D. X-ray Diffractometer (XRD)
D-1. XRD의 특징
D-2. XRD의 구성성분
D-3. XRD의 시료 준비
5. 참고문헌
본문내용
1) X선의 성질: X선은 고 에너지 전자의 감속에 의해서 또는 원자 내부 궤도함수 전자가 전자전이할 때 발생하는 짧은 파장 (약 0.1에서 200Å)의 전자기 복사선이다.
- 사진작용
- 이온화 작용
- 형광작용: ZnS, CdS, NaI 등에 조사시키면 형광을 발생 시킨다.
- 사진작용, 형광작용, 이온화 작용을 이용해 X선의 검출에 이용한다.
- 진공 중에서 빛과 같은 속도로 진행한다.
- 입자와 같이 회절(Diffraction) 현상이 나타난다.
- 투과성이 높아서 의료목적 및 재료시험 목적 등으로 사용이 가능하다.
- 굴절률이 거의 1에 가깝다. (굴절에 의하여 X선을 집중시키는 것은 거의 불가능)
2) X선 발생원리: X선은 보통 봉입식 관구를 사용하여 발생시킨다. 필라멘트(음극)에서 발생한 열전자는 음극과 양극(대음극)의 사이에 인가된 접압에 의해 가속되어 과녁에 충돌한다. 그러면 하단 스펙트럼과 같은 파장분포를 지닌 X선이 발생한다. X선은 발생 메커니즘에 따라 고유 X선(characteristic X-rays)과 연속X선(continuous X-rays)로 구분할 수 있다.
참고 자료
신은상 외5, “기기분석”, 동화기술, 1998, p133~160
https://www.kistec.or.kr/kistec/LIB/download2.asp?name=x-ray.pdf “X - ray 회절분석법 (XRD)”
www.zeus.go.kr/cafe/public/post/3468/down/1610 “X선회절 (X-Ray Diffraction)”