신소재의 응용

목차

1>x선 회절 분석기
2>x선의 회절
3>x선 회절 분석법
4>x선 회절 분석기 구조

본문내용

x선의 회절
결정 속의 원자는 입체적으로 규칙적이게 배열되어 있으므로 X선이 각 원자에 부딪치면 이들 원자 속의 전자는 X선의 진동수(주파수)와 같은 진동수로서 진동해서 이 진동을 근원으로 사방으로 퍼지는 전자파인 X선을 발생시킨다. 이것을 X선 회절이라 한다. X선 회절에 사용되는 X선의 파장은 원자의 크기와 같은 정도로서 물질을 구성하는 원자에 의해 만들어지는 산란파와 서로 간섭해서 회절현상이 일어나며, 그 회절현상은 원자의 배열방법과 밀접하게 관련되어 있어서 X선 회절패턴으로 부터 구조에 대한 중요한 지식을 얻을 수 있다. 그 특징은 ① 모든 원자에 의해 산란되고, ② 특정 입사각에서만 회절빔 생성되며, ③ 회절 X-선의 강도는 입사 X-선의 강도보다 적다는 점이다.
좁은 간극(슬릿)을 통과시켜서 가느다란 빔 모양으로 만든 X선을 결정편에 충돌시키면, 결정 내의 원자에 의하여 산란된 X선이 서로 겹쳐서 특정한 방향으로 강하게 간섭하여 결정판 뒤에 놓은 필름 위에 규칙적으로 늘어선 많은 반점의 상(라우에점무늬)이 찍힌다.

참고 자료

없음