기초전기전자공학실험 lab8,노턴의 정리 결과보고서
- 최초 등록일
- 2022.04.15
- 최종 저작일
- 2021.05
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소개글
기초전기전자공학실험 lab8,노턴의 정리 결과보고서입니다.
목차
1. 노턴의 정리를 검증하기 위한 측정
2. 실험 사진
3. 오차 발생 원인
4. 결론 및 고찰
1) [결론]
2) [고찰]
본문내용
오차 발생 이유로 첫 번째는 저항 소자 실측값이 이론값보다 작아서 발생한 오차이다. 멀티미터에 흐르는 내부 저항으로 기기 내부 전류가 흘러서 저항에 흐르는 전류값도 작아지게 된다. 기기 자제 저항에 전압(V)이 걸리면서 멀티미터는 실제 전압보다 낮은 전압을 지시하게 된다. 낮은 전압이 나온다면 옴의 법칙(V=IR)에 의해 계산되는 저항 값도 작게 나온다.
I _{N}값이 오차가 상대적으로 많이 나온 이유는 다음과 같다. 실제 실험을 진행 할 때, 전류원 I _{N}을 실험 기기로 사용하기 어렵다보니 Rth를 개방했을 때 걸리는 테브난 전압 Voc를 구하고..
<중 략>
4. 결론 및 고찰
[결론]
노턴 등가 회로를 통해 전류원으로 주어졌을 때 등가 회로로 구성하는 방법 및 부하 전류값을 측정하는 실험을 진행했다.
기본 회로 실험에서 부하 저항 RL의 전압값이 8.36V가 나왔다. Voc 이론값 8.379V보다 0.019V 작지만 오차 범위 이내였다. 등가 저항 Rth는 테브난 등가 저항을 구하는 과정과 동일하게 시행한 결과 541.46 OMEGA 으로 이론값 543.195 OMEGA 와 거의 차이가 없었다. 부하 저항을 제거시키고 단락시켰을 때 그곳에 흐르는 전류 I _{N} =14.775(mA)가 나왔다.
참고 자료
없음