고체화합물의 X-선회절분석 결과보고서

소개글

"고체화합물의 X-선회절분석 결과보고서"에 대한 내용입니다.

목차

1. 실험제목
2. 실험목적
3. 결과분석
4. 고찰

본문내용

1. 실험제목
고체화합물의 X선회절분석

2. 실험목적
-X선 회절 분석 방법의 원리에 대해 이해하고, X-선 회절 분석 장치를 이용하여 얻은 데이터를 분석하여 시료 물질의 구조에 대하여 알아본다.

<중 략>

4. 고찰
이번 실험에서는 X선 회절 분석을 통해 NaCl, CsCl, Y2O3의 결정을 분석하여 XRD의 원리에 대해 이해하고, 얻은 데이터를 분석하여 시료 물질의 구조에 대하여 알아보았다. 먼저 XRD 그래프의 X축은 2θ를, Y축은 Intencity를 나타내는데, 이것들은 시료의 고유 특징이다. 회절시켰을 경우 보강 혹은 상쇄 간섭이 일어날 때 각각의 시료마다 다르게 나타나므로 XRD를 통해 시료의 종류를 예측할 수 있는 것이다. XRD 그래프에서 나타난 피크의 2θ 값을 통해 원하는 값을 얻을 수 있었다. 브래그 법칙인 nλ=2dsinθ에 n=1, 일반적으로 많이 쓰이는 CuK_α의 λ =1.54184Å, θ값을 대입하여 d(면간거리)를 구했다. n의 값이 1인 이유는 보강간섭 조건으로 반사지수를 1로 두는 것인데 금속에서 회절이 일어날 때의 면간거리 d값이 아주 작은 값이기 때문에 반사지수를 1로 두는 것이다. 즉, 격자의 면간거리가 너무 작아서 실제로는 반사지수가 거의 1에 가깝다.
브래그 법칙에서 좌항 값이 고정일 때 θ 여러 입사 각도라고 생각 하였을 때 각도와 면간거리가 서로 관계가 있다는 것을 알 수 있다.

참고 자료

X선회절 실질적인접근, 흥릉과학출판사,김유택, p4~123