아날로그 및 디지털회로설계실습/ 7. 논리함수와게이트 / 결과보고서 / 성적인증포함 / 해당학기 전체 성적인증포함

목차

1. 아날로그및디지털회로설계실습_결과보고서7_논리함수와게이트.docx
2. 아날로그성적.png

본문내용

0. 요약
기본적인 논리게이트인 AND, OR, NOT 게이트를 활용하여 NAND, NOR, XOR 게이트를 구현하고 기능을 측정하는 실험을 했다. 계획서에서 설계한 NAND, NOR 그리고 XOR게이트의 등가회로를 3종류의 IC chip을 이용하여 구성하였으며 전압 측정을 통해 각각의 동작 특성을 확인하였으며 High(1)출력 신호의 최대값은 3.38 V, Low(0)신호의 최소값은 0.02 V를 나타냈다. 그리고 NAND gate만을 이용한 AND, OR, NOT 게이트의 등가회로를 구성하고 같은 과정을 반복하였다. High 출력은 모두 1.86 V가 측정되었고 Low 출력은 0.007 V까지 낮은 전압이 측정되었다. 또 계획서에서 설계한 방법으로 OR gate의 입출력 딜레이(τpHL= 2 msec = τpLH ) 를 측정할 수 있었다. 마지막으로 74LS00 chip의 최소정격전압을 측정하였고, 그 값은 약 1.80 V이다. 설계실습계획에서 예상한 결과를 대부분 얻을 수 있었던 만족스러운 실습을 했다.

01. 서론
설계실습계획에서, NAND, NOR, XOR 게이트를 |AND OR NOT} set으로 구현할 수 있음을 등가 회로 구성을 통해 확인하였다. 그리고 AND와 OR게이트의 입출력 시간 딜레이를 측정할 수 있는 방법에 대하여 설계했는데, 여러 개의 AND 혹은 OR게이트를 직렬로 연결시킨 후, 구형파를 입력하여 오실로스코프로 전체 회로의 입출력 파형을 분석하는 방법을 생각해보았다.

참고 자료

없음

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