전기적 특성평가, 도체와 반도체의 면저항 측정, 레포트, 실험 결과 보고서

소개글

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목차

Ⅰ. 도체와 반도체의 면저항 측정
1.실험목표
2.Keywords
(1) 재료의 전기적 특성
(2) 4 point probe
3.실험방법
4.실험 준비물
5.주의 및 참고사항

Ⅱ. 실험 결과 보고서
1. 실험 목적
2. 이론적 배경
3. 실험 결과
4. 실험 방법
5. 논의 및 고찰

본문내용

(1) 재료의 전기적 특성

물질은 비저항(resistivity)의 크기에 따라 부도체(insulator), 반도체(semiconductor) 및 도체(conductor)로 크게 나눌 수 있다. 비저항이 대략 10-3 ~ 1010 Ω㎝ 정도의 것을 반도체, 그 이하의 것을 도체, 그 이상의 것을 절연체라 한다. 비저항은 물질의 고유한 성질로, 전도율에 역수를 취한 값이다. 전도율이란, 재료가 전류를 얼마나 용이하게 흐르게 할 수 있는가를 나타내는 척도이다. 재료마다 비저항의 차이, 즉 전기전도율의 차이가 나는 이유는 그 물질의 에너지 밴드 구조에 있다. 우수한 도체인 대부분의 금속은 전자가 존재하는 가전자대와 전자가 전기전도에 참여할 수 있는 전도대가 겹쳐있거나 그 에너지차이가 아주 작아 쉽게 자유전자를 형성할 수 있는 구조를 가지고있다.

<중 략>

실험 : 도체와 반도체의 면저항 측정
1.실험 목적
먼저 이 실험의 목적은 비저항, 면저항 등의 개념을 확실히 알고, 서로 다른 시편의 면저항을 측정한 후 각각의 시편의 면저항이 왜 다른지 생각해보고 어떤 재료를 사용하여 설계하고자 할 때 가장 적합한 재료를 선택할 수 있는 능력을 키우는데 목적이 있다. 또, 박막형태의 재료들의 면저항을 측정해보고, 재료의 전기적 특성을 분석해 다양한 공학 분야에 적용시켜 이용하기 위함이다.

참고 자료

없음