X선결정학 보고서-XRD 원자산란인자 보고서 신소재공학과

소개글

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목차

1. 개요

2. 측정조건

3. Data of Experiment
3.1 Figure 1 : XRD data of Al
3.2 Figure 2 : JCPDS Data of Al
3.2 Figure 3 : JCPDS Data of

4. Analysis
4.1 면간거리
4.2 격자상수
4.3 구조인자

5. Discussion

6. REFERENCE

본문내용

재료의 가공을 통해 원하는 물성을 이끌어내려고 노력하는 신소재공학도에게 원자의 배열과 결정 구조의 분석은 매우 중요한 요소이다. 따라서 이러한 목적을 달성하는데 도움을 주는 XRD는 재료의 연구에 있어서 매우 중요한 분석기기이다. 쉽게 말해 XRD는 물질의 구성성분, 그리고 결정 구조를 파악하는 장치이다. 주로 구리 타깃을 사용하여 나오는 파장을 사용하여 시편을 향해 쏘아주면, 시편내의 결정구조 등의 요인으로 Bragg's Law를 성립하는 면에서는 회절이 그렇지 않은 면에서는 회절이 일어나지 않음으로서 물질마다 고유의 2Θ 위치에서 peak가 나타난다. 이 2Θ값에 대한 분석은 JCPDS 카드와의 대조를 통해 알 수 있으며, 이런 과정을 통해 얻은 정보를 바탕으로 시편의 면간거리, 격자상수, 구조인자 그리고 최종적으로 원하는 시편이 어떤 특징을 가지고 있는지에 대한 기본적인 정보를 파악할 수 있는 기기이다.

참고 자료

https://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_crystallography
https://en.wikipedia.org/wiki/Aluminum