화공계측실험Final-Report(9)-Atomic Force Microscope

목차

1. 실험 제목
2. 실험 목적 및 이론적 배경
3. 실험 과정
4. 실험 결과
5. 결론 및 제언

본문내용

1. 실험 제목
Atomic Force Microscope
2. 실험 목적 및 이론적 배경
이 실험의 목적은 AFM의 원리와 작동을 이해하는 데 있습니다. 접촉 모드로 AFM을 실행 하고 샘플 표면의 마찰력을 직접 측정해 보았습니다. AFM이란 Atomic Force Microscope 의 약자로, 현재 존재하는 모든 현미경 중 가장 높은 분해능을 가진 현미경 입니다. 나노미터 단위의 물질들을 날카로운 탐침을 통해 detect할 수 있습니다. 기존의 현미경은 빛을 이용해 시료를 시각적으로 관찰 하는 방식이지만 afm은 표면을 느끼면서 시료를 detect합니다.

<중 략>

5. 결론 및 제언
AFM은 nano-scale 의 작은 물질의 성질, 외관을 효과적으로 분석해 낼 수 있는 장비입니다. 이번 실험을 통해 AFM이 무엇인지 어떤 정보를 분석하는지 배울 수 있었습니다. 직접 실험을 하지는 못했지만 여러가지 문제를 생각할 수 있습니다.

참고 자료

없음