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[A+]아주대 전자회로실험 설계2 예비보고서 설계 2. CMOS 증폭단 설계

*진*
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최초 등록일
2017.06.10
최종 저작일
2016.11
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목차

1. 목적

2. 설계 사양

3. 설계 내용
1) MOSFET 특성 측정
2) 공통 소스 증폭단 특성 측정

4. 출처

본문내용

MOSFET 특성 측정
1) 이론
- MOSFET 특성 측정을 위한 회로 구성
주어진 회로를 통해 알 수 있듯이, 우리가 사용하는 소자는 기존에 사용하던 op-amp가 아닌 MOSFET 소자로 이루어져 있다. 우선 특성을 알아보기 위해 MOSFET 소자에 대해서 알아보면

위의 그림와 같이 Gate, Source, Drain으로 이루어져 있다. 칩의 내부는 위와 같이 Source와 Drain이 n+로 표시된 n-type 기판 위에 있고 나머지 부분은 p-type으로 이루어져 있다. 이 때, Gate에 전압을 인가해 주면 전하가 유도되어 p-type substrate가 n-type으로 도핑되어 이렇게 도핑이 이루어진 부분에는 전류가 흐를 수 있게 된다. 이렇게 전류가 흐를 수 있도록 인가된 전압은 라고 한다. Gate에 인가된 전압을 라고 하면 Drain과 Source 양단에 걸리는 전압 는 와 의 차이로 표현할 수 있다. 즉, 라는 식이 도출되고, 이 때 흐르는 전류는 일정하다.

참고 자료

MOSFET – https://www.google.co.kr/url?sa=i&rct=j&q=&esrc=s&source=images&cd=&ved=0ahUKEwjJze-0sMjQAhWIy7wKHWM-DLQQjhwIBQ&url=http%3A%2F%2Fwww.electronic-products-design.com%2Fgeek-area%2Felectronics%2Fmosfets%2Fusing-mosfets-as-general-switches&psig=AFQjCNGD7nTtC6GTul-iDx-5jl8Xx6f3uQ&ust=1480316908409514
계산
http://www-inst.eecs.berkeley.edu/~ee105/fa98/lectures_fall_98/091898_lecture11.pdf

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*진*
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