TEM의 소개와 원리 구조 응용 영상 회절 패턴
- 최초 등록일
- 2010.10.08
- 최종 저작일
- 2009.10
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소개글
TEM의 외형[A]과 내면[B] 사진을 통해 간단한 소개를 해본다.
목차
TEM의 소개(Presentation)
TEM의 원리(Principle)
TEM의 구조(Structure)와 응용(Application)
영상(Image)
회절(Diffraction)
본문내용
결정체의 시료는 특정방향으로 강하게 Bragg회절을 일으켜서 대물렌즈 후방초점면에
회절패턴을 형성한다. 투영렌즈 시스템의 초점을 회절패턴에 맞추면, 형광판에는
시료의 회절패턴이 확대투영된다.
이러한 회절 패턴은 결정 격자의 구조로부터 결정되어지는 구조인자에 따라 변화
된다. 또한 결정의 형태, 부피, 결함 유무 등에 의해서 주어지는 형상 인자에 의해
회절강도의 분포가 변하게 된다.
(((예를 들어 결정이 구형인 경우 역격자 공간에서
역격자점을 중심으로 구형으로 회절전자빔의 강도가 분포할 것이며, 판상의 시편인
경우에는 역격자점을 중심으로 입사전자빔과 평행한 방향으로 막대모양(Spike)의
상도 분포가 얻어지게 된다. 즉 시료 결정의 가장 얇은 면에 수직한 방향으로, 막대
모양의 회절전자빔의 강도분포가 나타나게 된다. 또한 시편이 하나의 결정으로 되
어있지 않고 미세한 여러 다 결정체로 뭉쳐 있다면, 각 결정입자의 방향은 공간 속
에서 각기 같은 확률을 가지고 배열되어 동심원의 형태로 회절도형이 얻어지게
된다. 이와 같은 회절 특성으로 인해 TEM으로 마치 X-선 회절무늬와 같은
회절도형을 관찰할 수 있게 된다.)))
시편에 전자빔이 입사될 때 결정면에 의한 회절은 위의 그림으로 쉽게 이해될 수 있다.
위의 그림에서 어떤 결정면(hkl)에 의하여 산란된 전자빔들이 서로
보강간섭(constructive interference)를 하면 회절된 전자빔의 진폭이 보강되어
관찰이 되지만 서로 소멸간섭(destructive interference)을 하면 관찰이 되지 않는다.
이러한 보강간섭과 소멸간섭의 조건은 Bravais Lattis에 따라 다르며 이를
Extinction rule이라고 한다.
참고 자료
없음