생체재료학 연습문제 레포트

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1.
Time-of-flight secondaryion mass spectrometry: techniques and
applications for the characterization of biomaterial surfaces

*TOF-SIMS (TOF-SIMS 이미지 질량분석) : SIMS장비에서는 일차이온으로 표면을 때리는 동안 방출하는 양이온 혹은 음이온을 분석하는데, 이와같은 SIMS를 이용하여 화학적 성분과 표면구조를 얻어낼 수 있다. TOF-SIMS는 고분자 기술에서 발생하는 중요한 문제를 풀기위한 배경을 제공하며 거대 분자들의 이온 스퍼터링에 대한 기초연구에 중점을 두고 있다. 고분자의 TOF-SIMS 스펙트럼은 고분자 형태, 작용기, 반복단위, 말단기, 그리고 가지친 사슬의 데이터를 얻어 고분자를 확인할 수 있고 oligomer 분포와 평균 분자량을 얻을수 있으며, 고분자 표면의 불순물등 여러 가지 형태의 중요한 정보를 제공한다.

*SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) : 이차이온질량 분석법 1~20 KeV의 운동 에너지를 가진 일차이온빔을 고체시료 표면에 충돌시켜, 고체 표면이나 내부의 원자들을 이온화 상태로 Sputtering한 후 생성된 이차이온을 analyzer에 통과시켜 에너지와 질량에 따라 분리하여 검출하는 분석법이다. 한편 sputterd원자의 탈출깊이는 대략 10Å정도로 알려져 있으며 SIMS는 10Å정도의 표면층으로부터 방출되는 원자를 이용한다. Sputtering 이란 일차 이온빔의 충격으로 표면층의 원자들이 이온이나 중성입자의 형태로 떨어져나가는 현상이다

Interaction of fibrinogen with surfaces of
end-group-modified polyurethanes: A surface-specific
sum-frequency-generation vibrational spectroscopy study

*적외선스펙트럼 (Infrared rays spectrum) : 주파수를 점차 감소시키면서 시료에 적외선을 주사하고, 시료를 통과한 적외선의 파장 강도를 기록한 것이다. 적외선 스펙트럼은 기체·액체·결정뿐만 아니라 비결정성 고체·고분자·용액 등 대부분의 상태에서 측정이 가능하다. 이 스펙트럼에서 사용한 흡수 진동대의 파장으로 분자 성분의 종류(정성분석)를 상대적 흡수량으로 그 성분의 양을 판별할 수 있지만 어렵다.

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