[공학기술]MOSFET CS Amplifier_결과보고서
- 최초 등록일
- 2007.06.25
- 최종 저작일
- 2007.01
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소개글
전자회로실험 MOSFET CS Amplifier 결과보고서 입니다.
내용정리 충실히 하였고 오차분석 부가적으로 +알파가 되는 부분까지 하였습니다.
목차
1. 실험 결과
2. 실험 결과 분석
▲ 오차 원인
▲ 조별 토의
본문내용
2. 실험 결과 분석
▲ 오차 원인
1. 커패시터, 저항의 제조과정에서의 오차
- 저항의 경우 탄소피막으로 이루어져있고 대부분 5%이내, 커패시터는 10%이내의 오차를 갖는다. 실제로 저항을 측정해본 결과 1kΩ(0.991kΩ), 10kΩ(9.898kΩ), 2.2MΩ(2.16MΩ)이었다.
2. Function Generator는 주파수를 맞추는 것과 전압을 공급하는 것이 아날로그 방식이기 때문에 정확하게 실험에 필요한 주파수와 전압을 회로에 줄 수 없었기 때문에 이에 오차가 발생하였다.
3. 내부저항
- Function Generator, Oscilloscope, Digital Multimeter, Bread-Board, Lead선, Wire등의 내부저항으로 그 크기는 작지만 약간의 오차가 발생하였다.
4. 오실로스코프 상에서 주파수가 시간이 지날수록 조금씩 떨어지는 것과 DC Power Supply에서 전압이 조금씩 떨어지는 것을 확인할 수 있었는데, 이는 내부회로가 온도에 민감한 반도체 소자이기 때문이라고 생각한다. 따라서 이것도 오차의 원인이라고 할 수 있다.
5. 멀티미터의 수치상의 오차(유효숫자), 실험결과의 계산과정상의 오차(유효숫자)
6. Function Generator와 Oscilloscope의 연결부위 접촉 불량 및 내부회로 노후의 가능성
7. 그 밖에 실험과정에서 발생하는 열, 공기, 실험실 내부의 온도변화, 이론과 실제의 차이, 기기 다루는데 대한 미숙함도 오차가 발생하는데 영향을 주었을 것으로 생각된다.
참고 자료
없음