기기분석 장비의 간단한 이론 및 정리
- 최초 등록일
- 2012.03.10
- 최종 저작일
- 2012.03
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소개글
시험 이나 간단한 레포트 대비 분석장비의 실전 예를 간단히 작성
목차
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본문내용
- 고체 입자의 기기적 분석방법
1. SEM (주사전자현미경)
무기물 입자표면에 전자를 흘려보내 전자가 흘러간 형태를 이용하여 입자의 형태나 크기를 확인하는 방법
2. TEM (투과주사전자 현미경)
입자의 표면에 X선을 투과 시켜 형태를 확인하는 방법으로 SEM과 같이 입자의 표면과 형태 크기를 확인할 수 있으며, 입자를 투과할 수 있기 때문에 표면 뿐만 아니라 내부의 형태나 공극을 확인할 수 있는 분석방법이다. 또한 X선의 조사 세기를 강하게 하여 SAED 분석을 진행해 입자의 결정성을 확인할 수 있으며, 입자의 분자간 거리인 d를 확인할 수 있다.
3. BET
생성된 입자의 비표면적을 측정할 수 있는 분석 방법으로 입자에 질소와 같은 가스를 주입하여 표면에 흡탈착량을 계산함으로써 비표면적을 구할 수 있고, 표면의 공극의 크기를 측정할 수 있다.
4. FT-IR
적외선을 이용하여 신축진동수를 계산 입자내 형성된 기능기를 확인하는 분석 방법으로 IR 분석법에 퓨리에 변환을 적용한 한단계 발전한 분석법이다. 입자내 형성된 수소, 산소, 탄소 등의 결합기를 확인할 수 있다.
5. PSA
입자의 크기를 평균적으로 측정이 가능하며, 입자 크기별 분포를 확인할 수 있는 방법으로 측정법은 두 가지가 존재하는데 모두 레이져를 이용하며, 방법에 따라 scattering 과 diffraction 법을 이용한다. 입자를 측정하게 되면 입자의 평균 분포도를 확인할 수 있으며, 그 크기 또한 예측이 가능하다.
참고 자료
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