Instrumental Analysis AFM 예비보고서

소개글

"Instrumental Analysis AFM"에 대한 내용입니다.

목차

1. 실험 목적
2. 이론적 배경
3. 시약 및 기구
4. 실험 방법
5. reference

본문내용

1. 실험 목적 (objective)
- Atomic Force Microscope(AFM)의 원리를 이해한다.
- AFM tip과 sample 사이 거리에 따른 Van der Waals force 변화와 다양한 스캔모드에 대해 배운다.
- AFM noncontact mode를 사용하여 membrane sample의 roughness, surface Z height를 분석하는 방
법을 배운다.
2. 이론적 배경 (theoretical background)
A. Van der Waals Force
Van der Waals force는 분자의 separation에 따라 closed-shell molecule 사이에 작용하는 힘이다. 비극성
분자간의 인력으로 분자들이 밀접한 접촉을 했을 때 분자들 간의 혹은 한 분자 내 전자분포의 무작위적 변
화가 일어나게 되고 다른 근처의 분자의 전하의 무작위적 분포를 야기함으로써 발생하는 힘이다. 순간적이
고 작은 힘이지만 큰 비극성 분자에서 광범위하게 일어나면, 실질적인 인력이 형성된다. 이 힘은 거리가 가
까울수록, 작용범위가 넓을수록 커진다.

참고 자료

화공실험메뉴얼
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