서강대학교 기초전자공학실험 - 실험 1. 멀티미터에 의한 측정 결과 보고서

목차

1. 제목 : 실험 1. 멀티미터에 의한 측정
2. 실험결과
3. 결과분석 및 토의

1. 제목 : 실험 2. 수동 소자 (R, L, C)의 규격 판독법
2. 실험결과
3. 결과분석 및 토의

본문내용

3. 결과분석 및 토의
- 결과분석 과정 (1) 저항 측정
1) 관련이론 및 실험과정
과정 (1)의 목적은 멀티미터를 통한 저항 측정이다. 저항을 측정하기 위해 먼저 멀티미터의 조절기를 저항 영역에 놓은 후 (+)단자와 (-)단자를 접속시켜 0옴 조정을 한다. 이후 저항 양단에 (+)단자와 (-)단자를 연결하여 멀티미터에 나타나는 눈금을 읽는다. 이때 처음부터 조절기를 낮은 범위에 놓으면 저항이 아주 클 경우 멀티미터가 망가질 수 있으므로 조절기를 높은 범위에서부터 낮은 범위로 낮추어가며 측정한다. 여기서 멀티미터의 눈금으로 나타나는 저항값 R_x는 멀티미터의 내부 기전력을 E, 내부 저항을 R, 회로에 흐르는 전류를 I라 하면 R_x와 R이 서로 직렬 연결이므로 다음과 같다.
R_(x = ) E/I-R
E와 R값은 정해져 있으므로 I를 통해 계산한 미지의 저항 R_x의 값을 눈금을 통해 나타낸다.

2) 오차에 대한 원인분석
과정 (1)의 몇몇 측정에서 저항에 표기된 허용오차를 넘어서는 측정값이 나왔다. 그 이유로는 다음의 몇 가지를 생각해볼 수 있다.
① 멀티미터의 0옴 조절이 제대로 되지 않았다.
② 조절기를 좀 더 낮은 범위에 놓고 측정할 수 있었으나 그러지 않았다.
③ 저항 또는 멀티미터가 불량품이다.

3) 실험에 대한 개선점
① 저항 측정 때마다, 눈금의 범위가 바뀔 때마다 0옴 조정을 철저히 한다. 이번 실험에서는 관련 내용을 충분히 숙지하지 못해 측정 때마다 0옴 조정을 하지 않았다.
② 더 낮은 범위의 눈금으로 측정이 가능하다면 조절기를 더 낮은 범위로 돌려서 더 정확한 측정값을 읽는다.
③ 저항에 표기된 값과 측정값이 너무 많은 차이가 난다면 저항 또는 멀티미터를 다른 것으로 바꾸어 다시 한번 측정한다.

참고 자료

Irwin & Nelms, Basic Engineering Circuit Analysis 11/ed, WILEY, 2015, pp. 38-39.
서강대학교 전자공학과, 기초전자공학실험 [2주차], 서강대학교, 2017